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龍圖騰網(wǎng)獲悉華芯半導(dǎo)體科技有限公司;華芯半導(dǎo)體研究院(北京)有限公司申請(qǐng)的專利一種應(yīng)用于VCSEL芯片的智能化監(jiān)管系統(tǒng)及方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN120028682B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-12發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202510511889.8，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R31/28；該發(fā)明授權(quán)一種應(yīng)用于VCSEL芯片的智能化監(jiān)管系統(tǒng)及方法是由吳敦文;梁高明;王健軍;江藹庭;堯舜;王金昭;田正如設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2025-04-23向國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本一種應(yīng)用于VCSEL芯片的智能化監(jiān)管系統(tǒng)及方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種應(yīng)用于VCSEL芯片的智能化監(jiān)管系統(tǒng)及方法，涉及芯片智能化監(jiān)管技術(shù)領(lǐng)域，包括：獲取歷史的屬于相同規(guī)格的若干VCSEL芯片對(duì)應(yīng)的測(cè)試記錄，從測(cè)試記錄中提取標(biāo)記測(cè)試記錄；將標(biāo)記測(cè)試記錄對(duì)應(yīng)的芯片作為標(biāo)記芯片，得到標(biāo)記芯片的第一健康值；并根據(jù)第一健康值，得到標(biāo)記芯片的目標(biāo)值，進(jìn)而建立第一集合；獲取通過當(dāng)前的采樣規(guī)則得到的所有目標(biāo)采樣芯片，建立第二集合；根據(jù)第一集合和第二集合，判斷是否對(duì)當(dāng)前的采樣規(guī)則進(jìn)行預(yù)警提示。本發(fā)明通過對(duì)芯片歷史的測(cè)試記錄，結(jié)合實(shí)際狀態(tài)與各項(xiàng)性能測(cè)試的數(shù)值進(jìn)行分析，判斷采樣規(guī)則是否合理，提高了樣本采樣的可靠性，以及減小了測(cè)試結(jié)果與真實(shí)整體水平之間的差異性。

本發(fā)明授權(quán)一種應(yīng)用于VCSEL芯片的智能化監(jiān)管系統(tǒng)及方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種應(yīng)用于VCSEL芯片的智能化監(jiān)管方法，其特征在于，包括以下步驟： 步驟S100：獲取歷史的屬于相同規(guī)格的若干VCSEL芯片對(duì)應(yīng)的測(cè)試記錄，所述測(cè)試記錄是對(duì)芯片的各項(xiàng)性能進(jìn)行測(cè)試之后形成的記錄，對(duì)測(cè)試記錄中對(duì)應(yīng)的每一項(xiàng)性能測(cè)試的數(shù)值進(jìn)行分析，從測(cè)試記錄中提取標(biāo)記測(cè)試記錄； 步驟S200：將標(biāo)記測(cè)試記錄對(duì)應(yīng)的芯片作為標(biāo)記芯片，對(duì)標(biāo)記芯片在完成測(cè)試后，實(shí)際投入運(yùn)行過程中的電氣特性項(xiàng)進(jìn)行檢測(cè)，得到標(biāo)記芯片的第一健康值；獲取標(biāo)記芯片在實(shí)際投入運(yùn)行過程中的每一性能指標(biāo)的數(shù)值，并根據(jù)第一健康值，得到標(biāo)記芯片的目標(biāo)值；進(jìn)而基于每一標(biāo)記芯片的目標(biāo)值，建立第一集合； 步驟S300：獲取通過當(dāng)前的采樣規(guī)則得到的所有目標(biāo)采樣芯片，并對(duì)目標(biāo)采樣芯片在完成測(cè)試后，實(shí)際投入運(yùn)行過程中的各項(xiàng)性能測(cè)試的數(shù)值進(jìn)行分析，建立第二集合； 步驟S400：根據(jù)第一集合和第二集合，計(jì)算當(dāng)前的采樣方式的預(yù)警系數(shù)，并根據(jù)所述預(yù)警系數(shù)，判斷是否對(duì)當(dāng)前的采樣規(guī)則進(jìn)行預(yù)警提示。

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