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龍圖騰網(wǎng)獲悉中國船舶集團(tuán)有限公司第七二四研究所申請的專利跨周期目標(biāo)形態(tài)質(zhì)量一致性檢驗(yàn)雷達(dá)目標(biāo)自動起始方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN116359906B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-12發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202211443366.7，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01S13/66；該發(fā)明授權(quán)跨周期目標(biāo)形態(tài)質(zhì)量一致性檢驗(yàn)雷達(dá)目標(biāo)自動起始方法是由耿利祥;孟凡;張成寶;鄭慶琳設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2022-11-18向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本跨周期目標(biāo)形態(tài)質(zhì)量一致性檢驗(yàn)雷達(dá)目標(biāo)自動起始方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開一種跨周期目標(biāo)形態(tài)質(zhì)量一致性檢驗(yàn)雷達(dá)目標(biāo)自動起始方法，將當(dāng)前周期數(shù)據(jù)與時間窗口周期內(nèi)的實(shí)時雷達(dá)點(diǎn)跡數(shù)據(jù)組成點(diǎn)跡數(shù)據(jù)池并按周期存儲。在窗口點(diǎn)跡池內(nèi)以最大周期間隔的準(zhǔn)則采樣不同周期的兩個點(diǎn)跡初始化目標(biāo)模型，獲取目標(biāo)模型在時間窗內(nèi)每個時戳下的預(yù)測點(diǎn)位置，并以該位置建立與之對應(yīng)的量測波門，然后在窗口點(diǎn)跡池內(nèi)的每個時戳點(diǎn)的量測波門內(nèi)尋找目標(biāo)模型的其他支持點(diǎn)跡，最后，將所有目標(biāo)支持點(diǎn)通過最小二乘法擬合，通過一致性檢驗(yàn)函數(shù)確定目標(biāo)模型是否為真實(shí)運(yùn)動目標(biāo)。重復(fù)以上采樣和判決的過程，直到最大周期間隔的點(diǎn)跡被采樣結(jié)束。該方法能使檢測均方根誤差最小，同時計(jì)算了每個不同時戳的專有波門使計(jì)算量更小。

本發(fā)明授權(quán)跨周期目標(biāo)形態(tài)質(zhì)量一致性檢驗(yàn)雷達(dá)目標(biāo)自動起始方法在權(quán)利要求書中公布了：1.跨周期目標(biāo)形態(tài)質(zhì)量一致性檢驗(yàn)雷達(dá)目標(biāo)自動起始方法，其特征在于：實(shí)時獲取雷達(dá)點(diǎn)跡數(shù)據(jù)，將當(dāng)前周期數(shù)據(jù)與時間窗口周期內(nèi)的雷達(dá)點(diǎn)跡數(shù)據(jù)組成點(diǎn)跡數(shù)據(jù)池，點(diǎn)跡池內(nèi)的數(shù)據(jù)按周期存儲；利用線性高斯過程給目標(biāo)運(yùn)動建模，在窗口點(diǎn)跡池內(nèi)以最大周期間隔的準(zhǔn)則采樣不同周期的兩個點(diǎn)跡初始化目標(biāo)模型，獲取目標(biāo)模型在時間窗內(nèi)每個時戳下的預(yù)測點(diǎn)位置，并以該位置建立與之對應(yīng)的時間相關(guān)量測波門，然后在窗口點(diǎn)跡池內(nèi)的每個時戳點(diǎn)的量測波門內(nèi)尋找目標(biāo)模型的其他支持點(diǎn)跡，最后，將所有目標(biāo)支持點(diǎn)通過最小二乘法擬合，利用一致性檢驗(yàn)函數(shù)計(jì)算目標(biāo)形態(tài)質(zhì)量，通過形態(tài)質(zhì)量確定建立的目標(biāo)模型是否為真實(shí)運(yùn)動目標(biāo)；重復(fù)以上采樣和判決的過程，直到最大周期間隔的點(diǎn)跡被采樣結(jié)束；所述一致性檢驗(yàn)函數(shù)包括：將時間窗大小為w的范圍內(nèi)的點(diǎn)跡，通過波門檢測后得到波門內(nèi)的所有點(diǎn)跡，假定時間窗k1到kw范圍內(nèi)波門內(nèi)所有點(diǎn)跡數(shù)總和為N，對應(yīng)目標(biāo)模型的一致性檢驗(yàn)函數(shù)為其中： 其中mik為目標(biāo)模型在第k周期的擬合位置，xik為第k周期波門內(nèi)與擬合值最接近的點(diǎn)跡位置，zik為第k周期波門內(nèi)的點(diǎn)跡位置；將目標(biāo)模型的一致性檢驗(yàn)函數(shù)作為形態(tài)質(zhì)量，形態(tài)質(zhì)量大于閾值則確定為真實(shí)目標(biāo)，否則認(rèn)為虛假。

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