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龍圖騰網獲悉中國科學院高能物理研究所申請的專利一種微通道板準直器X射線檢測裝置及檢測方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115015295B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210518495.1，技術領域涉及：G01N23/04；該發明授權一種微通道板準直器X射線檢測裝置及檢測方法是由雒濤;徐玉朋;何會林;李天明;戚力強;李剛;張愛梅;楊生設計研發完成，并于2022-05-13向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種微通道板準直器X射線檢測裝置及檢測方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種微通道板準直器X射線檢測裝置及檢測方法，包括X射線源、載物臺、準直器、X光相機和屏蔽裝置，所述載物臺上設有通孔，所述準直器設在載物臺上，位于載物臺的后側，所述X射線源和X光相機分別設在準直器的前后方，所述X射線源、準直器和X光相機位于同一軸線上。本發明的檢測裝置明顯縮短了X射線源和X光相機之間的距離，進而減小了檢測裝置的體積，降低成本；其使用方法通過一次測量即可得出二維的搖擺曲線，而且光源距離近，粒子通量大，單次測量時間短，有效提升檢測作業效率，同時減少了人員暴露的危險。

本發明授權一種微通道板準直器X射線檢測裝置及檢測方法在權利要求書中公布了：1.一種微通道板準直器X射線檢測裝置的檢測方法，其特征是，檢測裝置包括X射線源（1）、載物臺（2）、準直器（3）、X光相機（4）和屏蔽裝置，所述載物臺（2）上設有通孔，所述準直器（3）設在載物臺（2）上，位于載物臺（2）的后側，所述X射線源（1）和X光相機（4）分別設在準直器（3）的前后方，所述X射線源（1）、準直器（3）和X光相機（4）位于同一軸線上； 所述X射線源（1）發射點光源，所述X光相機接收X射線并成像，所述X射線源（1）和X光相機（4）之間的距離為L，采用如下公式確定距離L： tgθ=dL 式中，θ為系統測量的角度分辨率，d為X光相機的像素尺寸； 檢測方法包括以下步驟： S1，系統準備：根據測量精度的要求，調整X射線源（1）、載物臺（2）和X光相機（4）的相對位置，并保證位于同一軸線上，調整完畢后安裝準直器（3）； S2，連接系統：將X射線源（1）、載物臺（2）和X光相機（4）均與測試系統進行連接； S3，進行測試：運行X射線源（1）和X光相機（4），X光相機（4）接收X射線并成像； S4，結果轉換：根據X光相機（4）成像的虛擬原始圖像進行轉換得到PicC亮度分布三維圖，根據PicC亮度分布三維圖得出準直器（3）的參數指標，并與預期值進行比對； 步驟S4中，PicC亮度分布三維圖水平方向的空間坐標為X射線的入射光傾角；PicC亮度分布三維圖的峰值為準直器（3）的開口面積比參數；PicC亮度分布三維圖的峰值所處位置對應的角度值為準直器（3）的指向精度參數，PicC亮度分布三維圖峰值的半寬高為準直器（3）的視場參數。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院高能物理研究所，其通訊地址為：100049 北京市石景山區玉泉路19號乙院；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。