西安電子科技大學李軒獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉西安電子科技大學申請的專利一種能夠表征目標絕對深度的偏振三維成像方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN114758060B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-12發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202210255211.4,技術領域涉及:G06T17/00;該發明授權一種能夠表征目標絕對深度的偏振三維成像方法是由李軒;劉志強;邵曉鵬;劉飛;蔡玉棟;蔡國成設計研發完成,并于2022-03-15向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種能夠表征目標絕對深度的偏振三維成像方法在說明書摘要公布了:本發明公開了一種能夠表征目標絕對深度的偏振三維成像方法,包括:獲取目標不同偏振角度下的偏振圖像;獲取偏振圖像中目標物體表面每個像素點處的偏振度;獲取目標表面不同像素點處的方位角初始值以及入射角初始值;對方位角初始值和入射角初始值進行校正;利用校正后的方位角和入射角對目標表面每個像素點構建法向量;利用法向量積分進行目標三維輪廓的重建,獲得目標的表面函數;結合相機的標定和表面函數,獲得目標的絕對深度信息。本發明以目標表面法向量沿深度方向分量為單位重新表征目標表面法向量,基于該表面法向量重構的三維模型與目標絕對深度信息為確定的變化關系,打破了傳統偏振三維成像顯示深度為相對深度的局限。
本發明授權一種能夠表征目標絕對深度的偏振三維成像方法在權利要求書中公布了:1.一種能夠表征目標絕對深度的偏振三維成像方法,其特征在于,包括: 利用偏振三維成像系統獲取目標不同偏振角度下的偏振圖像; 獲取偏振圖像中目標物體表面每個像素點處的偏振度; 根據所述偏振圖像和所述偏振度,獲取目標表面不同像素點處的方位角初始值以及入射角初始值; 對所述方位角初始值和所述入射角初始值進行校正,獲得校正后的方位角和入射角; 利用校正后的方位角和入射角對目標表面每個像素點構建法向量; 利用法向量積分進行目標三維輪廓的重建,獲得目標的表面函數; 結合所述偏振三維成像系統中相機的標定和所述表面函數,獲得目標的絕對深度信息, 其中,對所述方位角初始值和所述入射角初始值進行校正,包括: 對所述方位角初始值的多值性問題進行校正,獲得校正后的方位角,校正公式表示為: 其中,GN表示利用目標表面強度信息求解得到的梯度場變化參考信息,Gpolar表示利用目標反射光偏振信息求解得到的梯度場參量,表示二范數運算,若則所述方位角初始值即為校正后的方位角,若則將所述方位角初始值進行180°翻轉獲得校正后的方位角; 利用優化算法對鄰近90°預定范圍內的所述入射角初始值進行優化以避免tanθ出現極大值情況,獲得優化后的入射角θ, 所述優化算法為: 其中,fx為輸入的入射角初始值,取3個值分別記為T1,T0,T*,T1選取85.5°,T*選取85°,T0選取84.5°,其中,T0趨近于T*; 獲得優化后的入射角為: 其中,所述優化算法用于將輸入的入射角初始值在85°-90°之間的值削減為85°,在85°附近及小于85°均保持不變。
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