南昌航空大學付躍文獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉南昌航空大學申請的專利一種用于金屬構件渦流缺陷檢測的聚焦半圓形探頭及其使用方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN114509499B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-12發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202210100344.4,技術領域涉及:G01N27/90;該發明授權一種用于金屬構件渦流缺陷檢測的聚焦半圓形探頭及其使用方法是由付躍文;李朝陽;楊帆;黃文豐設計研發完成,并于2022-01-27向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種用于金屬構件渦流缺陷檢測的聚焦半圓形探頭及其使用方法在說明書摘要公布了:本發明提供一種用于金屬構件渦流缺陷檢測的聚焦半圓形探頭。所述用于金屬構件渦流缺陷檢測的聚焦半圓形探頭由半圓形磁芯、激勵線圈和兩個接收線圈構成,所述半圓形磁芯的兩只磁腳向下,所述激勵線圈均勻繞制在所述半圓形磁芯外面,兩只所述接收線圈放置在所述半圓形磁芯的兩只磁腳中心連線的正下方,所述接收線圈的上表面與所述半圓形磁芯的兩只磁腳的下表面緊貼,且所述接收線圈的距離可以調節。本發明提供的用于金屬構件渦流缺陷檢測的聚焦半圓形探頭實現了在較大提離高度下均可對被檢試件局部缺陷及厚度進行有效檢測,較傳統渦流檢測探頭擁有更高的檢測靈敏度,在帶包覆層管道的金屬構件局部腐蝕和壁厚檢測中有較大的應用價值。
本發明授權一種用于金屬構件渦流缺陷檢測的聚焦半圓形探頭及其使用方法在權利要求書中公布了:1.一種用于金屬構件渦流缺陷檢測的聚焦半圓形探頭,其特征在于,所述半圓形探頭由半圓形磁芯、激勵線圈和兩個接收線圈構成,所述半圓形磁芯的兩只磁腳向下,所述激勵線圈均勻繞制在所述半圓形磁芯外面, 兩只所述接收線圈放置在所述半圓形磁芯的兩只磁腳中心連線的正下方,兩個接收線圈為空心圓柱形線圈,以差分形式連接,所述接收線圈的上表面與所述半圓形磁芯的兩只磁腳的下表面緊貼,且所述接收線圈的距離可以調節; 所述半圓形探頭的激勵線圈線徑為0.1~2mm,匝數為50~2000匝;所述半圓形探頭的兩只接收線圈的線徑均為0.01~1mm,匝數為200~10000匝;所述半圓形探頭的兩只接收線圈間距為0~100mm。
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