北京中電科衛星導航系統有限公司田鳳娟獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉北京中電科衛星導航系統有限公司申請的專利一種電子電路板的AI圖像檢測方法及系統獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120031870B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-15發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510496365.6,技術領域涉及:G06T7/00;該發明授權一種電子電路板的AI圖像檢測方法及系統是由田鳳娟;劉宇恒;唐曉光;魏洪濤;王芳;邢濤;張慧林;范景海;張浩馳;郭媛設計研發完成,并于2025-04-21向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種電子電路板的AI圖像檢測方法及系統在說明書摘要公布了:本發明提供一種電子電路板的AI圖像檢測方法及系統,涉及電路板生產檢測技術領域。相比傳統人工視覺檢測方法,本發明通過電路板各生產工序的實時圖像進行初步檢測和精確檢測,實現了電子電路板的自動缺陷檢測,無需人工參與,提高了缺陷檢測效率。此外,本發明通過第一AI圖像檢測模型和第二AI圖像檢測模型,進行初步檢測和精確檢測,可以降低缺陷檢測過程中的資源占用量,保證電子電路板的缺陷檢測的實時性,進而提高電子電路板的缺陷檢測效率。
本發明授權一種電子電路板的AI圖像檢測方法及系統在權利要求書中公布了:1.一種電子電路板的AI圖像檢測方法,其特征在于,包括: 獲取待測電路板在各生產工序的實時圖像; 基于各生產工序的實時圖像,以及預設第一AI圖像檢測模型,進行初步檢測,確定所述實時圖像是否存在缺陷; 若所述實時圖像存在缺陷,則提取存在缺陷的實時圖像所處目標生產工序之前各生產工序的實時圖像;并基于目標生產工序之前各生產工序的實時圖像,構建缺陷檢測向量; 基于所述目標生產工序,篩選得到第二AI圖像檢測模型; 基于所述缺陷檢測向量,以及第二AI圖像檢測模型,進行精確檢測,得到待測電路板的缺陷檢測結果; 所述基于所述缺陷檢測向量,以及第二AI圖像檢測模型,進行精確檢測,得到待測電路板的缺陷檢測結果之后,還包括:記錄設定時期內各生產工序的缺陷信息,所述缺陷信息包括各缺陷類型的缺陷頻次;基于各生產工序的缺陷信息,確定關鍵工序和關鍵缺陷類型;所述關鍵工序為缺陷頻次大于第一閾值的生產工序,所述關鍵缺陷類型為缺陷頻次大于第二閾值的缺陷類型;提取與所述關鍵工序和關鍵缺陷類型相關的電子電路板的產品信息,所述產品信息包括產品型號、生產批次、生產日期、生產線編號和生產工藝參數;基于所述關鍵工序和關鍵缺陷類型,以及電子電路板的產品信息,生成缺陷分析序列;基于所述缺陷分析序列,確定缺陷原因和改進措施; 所述基于目標生產工序之前各生產工序的實時圖像,構建缺陷檢測向量,還包括:基于目標生產工序之前各生產工序的實時圖像,劃分圖像集,得到每個生產工序的圖像集;其中,任一生產工序的圖像集包括該任一生產工序的實時圖像和該任一生產工序之前各生產工序的實時圖像;基于每個生產工序的圖像集,進行橫向特征提取和縱向特征提取,得到每個生產工序的橫向特征和縱向特征;基于每個生產工序的橫向特征和縱向特征,生成每個生產工序的缺陷檢測向量;所述橫向特征表示單張實時圖像內各部分的特征;所述縱向特征表示多張實時圖像中同一區域的特征。
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