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龍圖騰網獲悉貴州民族大學申請的專利一種磁場測量方法、系統、存儲介質和電子設備獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115712078B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211260049.1，技術領域涉及：G01R33/26；該發明授權一種磁場測量方法、系統、存儲介質和電子設備是由蔡勛明;王偉;鄭亞利;趙鑫設計研發完成，并于2022-10-14向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種磁場測量方法、系統、存儲介質和電子設備在說明書摘要公布了：本發明涉及磁場測量技術領域，尤其涉及一種磁場測量方法、系統、存儲介質和電子設備，利用左旋圓偏振光和右旋圓偏振光來實現原子量子態的控制并在原子塞曼磁子能級中產生量子干涉效應即電磁誘導吸收的現象和電磁誘導透明的現象，且左旋圓偏振光的第二透射光會隨與磁場方向之間的角度改變而改變，這樣即可以測量外磁場的大小同時又提供了外磁場的方向信息，計算表明電磁誘導吸收的光透射峰線寬半高全寬可達到塞曼磁子能級間隔頻率的十萬分之六，這也將提供極高的磁場測量靈敏度。

本發明授權一種磁場測量方法、系統、存儲介質和電子設備在權利要求書中公布了：1.一種磁場測量方法，其特征在于，包括： 預設置左旋圓偏振光的頻率和右旋圓偏振光的頻率，使所述左旋圓偏振光和所述右旋圓偏振光耦合到放置在氣室中的堿金屬原子的基態和激發態的塞曼磁子能級； 同時調整所述左旋圓偏振光的頻率和所述右旋圓偏振光的頻率，產生電磁誘導吸收的現象； 根據所述左旋圓偏振光和所述右旋圓偏振光通過所述氣室的第一透射光，確定所述堿金屬原子的磁子能級間隔頻率； 根據所述堿金屬原子的磁子能級間隔頻率，計算得到所述氣室所在位置的磁場的大小； 將所述右旋圓偏振光的頻率設置在固定頻率，所述固定頻率的大小與所述堿金屬原子的基態的g2能級至激發態的e2能級之間的傳輸頻率相等，其中，根據所述磁場的大小計算得到所述傳輸頻率，將所述左旋圓偏振光的頻率進行調整，使所述右旋圓偏振光產生電磁誘導透明的現象，使所述左旋圓偏振光產生電磁誘導吸收的現象； 根據所述左旋圓偏振光通過所述氣室的第二透射光，確定所述氣室所在位置的磁場的方向。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人貴州民族大學，其通訊地址為：550025 貴州省貴陽市貴州民族大學機械電子工程學院；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。