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龍圖騰網獲悉北京青耘科技有限公司申請的專利存儲器測試裝置、三維堆疊存儲器芯片及存儲器測試方法和系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120260657B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-19發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510733099.4，技術領域涉及：G11C29/08；該發明授權存儲器測試裝置、三維堆疊存儲器芯片及存儲器測試方法和系統是由董俞鵬設計研發完成，并于2025-06-03向國家知識產權局提交的專利申請。

本存儲器測試裝置、三維堆疊存儲器芯片及存儲器測試方法和系統在說明書摘要公布了：本發明提供一種存儲器測試裝置、三維堆疊存儲器芯片和存儲器測試方法及測試系統，在存儲器測試裝置中內嵌內建自測試（BIST）測試流程、第一至第三配置寄存器，由此在測試主機上只需施加規定的測試激勵，即可自動化地實現對該三維堆疊存儲器芯片相應的功能參數的測試，且測試時，功能參數、測試方向和測試模式的切換，只需要調整第一至第三配置寄存器中的配置值即可實現，由此，優化了存儲器的功能參數的測試流程，極大地節省了測試時間和測試成本。

本發明授權存儲器測試裝置、三維堆疊存儲器芯片及存儲器測試方法和系統在權利要求書中公布了：1.一種存儲器測試裝置，其內嵌在三維堆疊存儲器芯片中或者設置在三維堆疊存儲器芯片的外部，所述三維堆疊存儲器芯片包括層疊在一起的多層存儲器裸芯，其特征在于，所述存儲器測試裝置內嵌有： 第一配置寄存器，用于配置待測試的當前功能參數的測試檔位； 第二配置寄存器，用于配置所述當前功能參數對應的測試模式； 第三配置寄存器，用于配置所述當前功能參數的測試指令，不同的測試指令所指示的測試方向和操作類型中的至少一者不同； 內建自測試模塊，內嵌有內建自測試流程，并用于接收相應的測試激勵，并在所述第一配置寄存器配置的測試檔位和所述第二配置寄存器中配置的測試模式下，按照所述第三配置寄存器中配置的測試指令，將所述三維堆疊存儲器芯片中相應的字線或位線激活，以執行所述內建自測試流程，對所述三維堆疊存儲器芯片進行所述當前功能參數的測試； 其中，所述第一配置寄存器、所述第二配置寄存器和所述第三配置寄存器中的至少一者的配置值，根據所述內建自測試模塊的測試結果被調整； 且所述內建自測試流程包括： 向所述三維堆疊存儲器芯片中寫入測試向量的數據； 讀出所述三維堆疊存儲器芯片中相應的數據，并對比讀出的數據與寫入的數據是否一致； 若一致，則所述第一配置寄存器中的配置值被調整以調小所述測試檔位，進而使所述內建自測試模塊在調小的所述測試檔位下，重新對所述三維堆疊存儲器芯片進行所述當前功能參數的測試。

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