湖南科技大學陳宇翔獲國家專利權
買專利賣專利找龍圖騰,真高效! 查專利查商標用IPTOP,全免費!專利年費監控用IP管家,真方便!
龍圖騰網獲悉湖南科技大學申請的專利一種基于ALS的并行張量填充方法及系統獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120216853B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-19發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510704237.6,技術領域涉及:G06F17/16;該發明授權一種基于ALS的并行張量填充方法及系統是由陳宇翔;銀果彤;謝鯤;梁偉;何大成;李冠憬;文吉剛設計研發完成,并于2025-05-29向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種基于ALS的并行張量填充方法及系統在說明書摘要公布了:本發明涉及電數字數據處理技術領域,公開了一種基于ALS的并行張量填充方法及系統,收集需填充數據集的特征信息,并依據預設的數據特征建立張量,生成該張量的初始因子矩陣;獲取張量有效值個數及位置,根據硬件設備性能進行劃分子張量,得到多個并行處理的子張量,并采用COO格式對子張量進行存儲;為一個子張量分配一個處理單元,并進行歸約操作,將每一行更新的值都賦值到當前所更新的因子矩陣中;對三個因子矩陣交替更新,多輪迭代,每輪迭代完成后將更新后的因子矩陣作外積得到填充后的張量,計算前后張量之間的損失,交替優化各因子矩陣,實現缺失值填充;本發明提高并行處理效率,降低整體計算延遲。
本發明授權一種基于ALS的并行張量填充方法及系統在權利要求書中公布了:1.一種基于ALS的并行張量填充方法,其特征在于,該方法包括以下步驟: 收集需填充數據集的特征信息,并依據預設的數據特征建立張量,生成該張量的初始因子矩陣; 獲取張量有效值個數及位置,根據硬件設備性能進行劃分子張量,得到多個并行處理的子張量,并采用COO格式對子張量進行存儲; 為一個子張量分配一個處理單元,并進行歸約操作,將每一行更新的值都賦值到當前所更新的因子矩陣中; 對三個因子矩陣交替更新,多輪迭代,每輪迭代完成后將更新后的因子矩陣作外積得到填充后的張量,計算前后張量之間的損失,交替優化各因子矩陣,實現缺失值填充; 通過動態調整子張量邊界實現計算任務的負載遷移,以子張量的有效值作為計算負載指標,將高負載子張量的相鄰切片向低負載區域擴展,通過調整切片厚度重新分配有效值,使得調整后的子張量負載滿足: ; 其中,為容差參數,為每個子張量的最佳有效值數量,為子張量的有效負載值。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人湖南科技大學,其通訊地址為:411201 湖南省湘潭市雨湖區石馬頭;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息,力求客觀、公正,但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解,僅供參考使用,不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。