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龍圖騰網獲悉華北理工大學申請的專利孔隙結構特征無損探測方法、裝置、設備、介質及產品獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120160959B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-19發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510637112.6，技術領域涉及：G01N15/08；該發明授權孔隙結構特征無損探測方法、裝置、設備、介質及產品是由劉坤;甘德清;薛振林;錢莉設計研發完成，并于2025-05-19向國家知識產權局提交的專利申請。

本孔隙結構特征無損探測方法、裝置、設備、介質及產品在說明書摘要公布了：本申請公開了一種孔隙結構特征無損探測方法、裝置、設備、介質及產品，涉及礦石無損探測領域，該方法包括對不同顆粒直徑的礦石顆粒散體進行斷層掃描，獲取不同顆粒直徑的礦石顆粒散體斷層圖像；對所述礦石顆粒散體斷層圖像進行切片處理，確定多層切片圖像；對多層切片圖像進行三維重建，構建三維孔隙模型；根據所述三維孔隙模型無損探測所述礦石顆粒散體的孔隙結構特征，本申請在無損探測過程中能有效成像，不受樣本限制以及提升分辨率。

本發明授權孔隙結構特征無損探測方法、裝置、設備、介質及產品在權利要求書中公布了：1.一種孔隙結構特征無損探測方法，其特征在于，包括： 對不同顆粒直徑的礦石顆粒散體進行斷層掃描，獲取不同顆粒直徑的礦石顆粒散體斷層圖像，具體包括： 利用CT機對不同顆粒直徑的礦石顆粒散體進行斷層掃描，獲取不同顆粒直徑的礦石顆粒散體斷層圖像；所述CT機為工業用X射線CT機，所述CT機每秒采集2層圖像，體素尺寸為139μm，斷層厚度為139μm，分辨率為794像素×794像素，掃描電壓為420kV，電流為1400μm； 對所述礦石顆粒散體斷層圖像進行切片處理，確定多層切片圖像； 對多層切片圖像進行三維重建，構建三維孔隙模型； 根據所述三維孔隙模型無損探測所述礦石顆粒散體的孔隙結構特征；所述孔隙結構特征包括面孔隙率、孔隙率以及孔隙相關參數；所述孔隙相關參數包括孔隙當量直徑、孔隙配位數、喉道當量直徑以及喉道長度； 確定所述三維孔隙模型的橫截面總面積以及橫截面內礦石顆粒面積； 根據所述橫截面總面積以及所述橫截面內礦石顆粒面積計算面孔隙率； 根據所述面孔隙率確定所述礦石顆粒散體的孔隙率； 基于所述三維孔隙模型，根據孔隙體素總數確定孔隙表面積以及喉道表面積； 根據所述孔隙表面積確定孔隙當量直徑； 根據所述喉道表面積確定喉道當量直徑，并測量喉道長度； 基于所述三維孔隙模型，根據喉道數量確定孔隙配位數。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人華北理工大學，其通訊地址為：063210 河北省唐山市曹妃甸新城渤海大道21號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。