中用科技有限公司胡增獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中用科技有限公司申請的專利主動學習框架的AMC超標原因挖掘分析方法及系統獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120162680B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-19發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510637911.3,技術領域涉及:G06F18/2415;該發明授權主動學習框架的AMC超標原因挖掘分析方法及系統是由胡增;江大白;賈瑋民設計研發完成,并于2025-05-19向國家知識產權局提交的專利申請。
本主動學習框架的AMC超標原因挖掘分析方法及系統在說明書摘要公布了:本發明涉及AMC超標成因分析技術領域,具體公開了一種主動學習框架的AMC超標原因挖掘分析方法及系統,所述方法包括當任一AMC濃度達到預設的閾值時,在數據矩陣序列中提取該AMC監測儀對應的子矩陣序列;在子矩陣序列中標記數據信息量小于預設的信息量閾值的行列位置,在子矩陣序列刪除標記的行列位置上的數據,得到簡化矩陣序列;將得到的簡化矩陣序列作為特征,將AMC濃度作為標簽,構建樣本集,基于樣本集確定超標原因;本發明提供了一種基于數據量的數據篩選方案,對樣本集進行主動篩選,降低樣本集中的樣本數量,提高樣本集中的樣本質量,這一前置工作屬于主動學習框架,與現有的識別過程對接,極大地提高了原因分析效率。
本發明授權主動學習框架的AMC超標原因挖掘分析方法及系統在權利要求書中公布了:1.一種主動學習框架的AMC超標原因挖掘分析方法,其特征在于,所述方法包括: 獲取AMC產生場景中的監測點位,根據監測點位的位置創建統計矩陣,基于統計矩陣獲取各個時刻的監測點位處的數據,得到含有時間標簽的數據矩陣;所述監測點位至少包括安裝傳感器和信號收發器的位置; 接收工作人員輸入的分析跨度,獲取分析跨度內的數據矩陣序列,計算數據矩陣序列中數據矩陣的任一行列位置的數據信息量;所述信息量由信息熵和周期性共同確定;所述分析跨度為時間跨度; 查詢分析跨度內AMC監測儀實時獲取到的AMC濃度;所述AMC濃度中含有時間標簽; 將AMC濃度與預設的濃度閾值進行比對; 當任一AMC濃度達到預設的閾值時,查詢AMC監測儀的位置,查詢距離AMC監測儀的位置最近的監測點位,查詢監測點位對應的行列位置; 根據AMC濃度確定提取邊長,基于提取邊長對查詢到的行列位置進行擴展,得到子矩陣的位置及尺寸;所述提取邊長與AMC濃度呈正比; 基于預設的回溯時長確定子矩陣數量,基于當前時刻在數據矩陣序列中選取子矩陣數量個數據矩陣,根據子矩陣的位置及尺寸在數據矩陣中截取子矩陣,基于序列順序排列子矩陣,得到子矩陣序列; 在子矩陣序列中標記數據信息量小于預設的信息量閾值的行列位置,在子矩陣序列刪除標記的行列位置上的數據,得到簡化矩陣序列; 將得到的簡化矩陣序列作為特征,將AMC濃度作為標簽,構建樣本集; 根據所述樣本集訓練AMC濃度預測模型; 讀取AMC濃度預測模型中各個變量對應的參數,計算參數的權重; 根據參數的權重選取變量,查詢變量對應的監測點位的類型,作為超標原因; 其中,AMC是指空氣傳播的分子污染物。
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