蘇州高擎三炬精密科技有限公司高亮獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉蘇州高擎三炬精密科技有限公司申請的專利基于圖像處理的半導體陶瓷復合材料表面缺陷檢測方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120088264B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-19發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510580427.1，技術領域涉及：G06T7/00；該發明授權基于圖像處理的半導體陶瓷復合材料表面缺陷檢測方法是由高亮;衛秀娟設計研發完成，并于2025-05-07向國家知識產權局提交的專利申請。
本基于圖像處理的半導體陶瓷復合材料表面缺陷檢測方法在說明書摘要公布了：本發明涉及缺陷檢測技術領域，具體涉及一種基于圖像處理的半導體陶瓷復合材料表面缺陷檢測方法；根據目標邊緣中相鄰邊緣像素點的梯度差異特征獲得局部梯度大小差異值和局部梯度方向差異值；根據局部梯度大小差異值和局部梯度方向差異值的分布特征獲得邊緣平滑特征值；根據任意兩個目標邊緣的邊緣平滑特征值獲得平滑差異度；根據平滑差異度獲得缺陷概率值并判斷是否存在缺陷；根據平滑差異度對目標邊緣聚類、根據邊緣平滑特征值選取缺陷邊緣簇。本發明根據缺陷邊緣簇中缺陷邊緣的兩側區域的灰度差異特征獲得分水嶺分割算法的種子點和缺陷區域；根據缺陷區域的面積特征獲得缺陷程度，提高了種子點選取和缺陷檢測的準確性。
本發明授權基于圖像處理的半導體陶瓷復合材料表面缺陷檢測方法在權利要求書中公布了：1.一種基于圖像處理的半導體陶瓷復合材料表面缺陷檢測方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟： 獲取半導體陶瓷復合材料的外觀圖像； 根據所述外觀圖像中邊緣線上邊緣像素點的鄰域范圍內其他邊緣像素點的數量特征獲得邊緣交點；根據所述邊緣交點獲取邊緣線中不同的目標邊緣；根據所述目標邊緣中相鄰邊緣像素點的梯度差異特征獲得局部梯度大小差異值和局部梯度方向差異值； 根據目標邊緣中邊緣像素點的局部梯度大小差異值和局部梯度方向差異值的分布特征獲得邊緣平滑特征值；根據任意兩個目標邊緣的邊緣平滑特征值的差異特征獲得平滑差異度；根據所述平滑差異度的離散特征獲得缺陷概率值并判斷是否存在缺陷；若存在缺陷，根據所述平滑差異度對目標邊緣聚類、根據所述邊緣平滑特征值在聚類結果中選取缺陷邊緣簇； 根據所述缺陷邊緣簇中任意缺陷邊緣的兩側區域的灰度差異特征獲得分水嶺分割算法的種子點；根據種子點通過分水嶺分割算法獲取復合材料外觀的缺陷區域；根據缺陷區域的面積特征獲得缺陷程度。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人蘇州高擎三炬精密科技有限公司，其通訊地址為：215500 江蘇省蘇州市常熟市沙家浜鎮久隆路7號13幢；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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