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龍圖騰網獲悉上海申矽凌微電子科技有限公司申請的專利溫度傳感器芯片的可靠性驗證裝置及方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115166487B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-19發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210800071.4，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權溫度傳感器芯片的可靠性驗證裝置及方法是由李可設計研發完成，并于2022-07-08向國家知識產權局提交的專利申請。

本溫度傳感器芯片的可靠性驗證裝置及方法在說明書摘要公布了：本發明提供了一種溫度傳感器芯片的可靠性驗證裝置及方法，包括溫度轉換模塊、電壓沖擊模塊、高低電壓控制系統和高低溫控制系統；所述高低溫控制系統對溫度傳感器芯片所處的環境溫度進行控制；所述溫度轉換模塊對溫度傳感器芯片讀取溫度時進行模數轉換；所述高低壓控制系統對溫度傳感器芯片所處的環境電壓進行控制；所述電壓沖擊模塊對溫度傳感器芯片進行電壓沖擊。本發明的模型相較于韋布爾分布可以更準確更科學地評估高精度溫度傳感器芯片的可靠性。驗證方案設計為改良版的高低溫靜放電工作壽命實驗HLTESDOL，相較傳統的HTOL實驗，樣品顆數要求低，實驗時間大大縮短，準確性高。

本發明授權溫度傳感器芯片的可靠性驗證裝置及方法在權利要求書中公布了：1.一種溫度傳感器芯片的可靠性驗證方法，其特征在于，應用溫度傳感器芯片的可靠性驗證裝置，包括如下步驟： 改良實驗步驟：通過高低溫靜放電工作壽命實驗對溫度傳感器芯片進行驗證，得到驗證通過的待測樣品數量； 失效率計算步驟：使用驗證通過的待測樣品數量結合加速可靠性模型計算溫度傳感器芯片的失效率； 評估步驟：通過失效率驗證溫度傳感器芯片的可靠性； 該驗證方法還包括建立加速可靠性模型步驟： 阿倫尼烏斯公式加速反應模型如下： 其中，AFT表示阿倫尼烏斯溫度加速因子；Ea表示活化能；k表示玻爾茲曼常數；Tu表示日常使用條件下溫度；Ta表示加速條件下溫度； 建立加速可靠性模型： 其中，x2表示卡方檢驗；α表示卡方方程置信區間；d.F表示自由度；ATa表示與溫度相關的加速因子；BVcc表示與電壓相關的加速因子；CfT表示與讀取溫度時的模數轉換頻率相關的加速因子；DfV表示與電壓沖擊頻率相關的加速因子；ss表示樣品數量；FIT等價于失效率的計量單位，復數形式為FTIs； 其中，所述溫度傳感器芯片的可靠性驗證裝置，包括溫度轉換模塊、電壓沖擊模塊、高低電壓控制系統和高低溫控制系統； 所述高低溫控制系統對溫度傳感器芯片所處的環境溫度進行控制； 所述溫度轉換模塊對溫度傳感器芯片讀取溫度時進行模數轉換； 所述高低電壓控制系統對溫度傳感器芯片所處的環境電壓進行控制； 所述電壓沖擊模塊對溫度傳感器芯片進行電壓沖擊。

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