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龍圖騰網(wǎng)獲悉廣州安特激光技術(shù)有限公司申請(qǐng)的專利一種光束質(zhì)量分析儀和激光發(fā)射器振鏡校準(zhǔn)方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN112611450B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-19發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202011518397.5，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01J1/42；該發(fā)明授權(quán)一種光束質(zhì)量分析儀和激光發(fā)射器振鏡校準(zhǔn)方法是由李陵江;田輝;肖群;王敏;裴浩設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2020-12-21向國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本一種光束質(zhì)量分析儀和激光發(fā)射器振鏡校準(zhǔn)方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種光束質(zhì)量分析儀和激光發(fā)射器振鏡校準(zhǔn)方法。分析儀包括殼體和能將光束分成主光束和待分析光束的分光結(jié)構(gòu)，殼體上沿光路方向依次設(shè)有物鏡、分光結(jié)構(gòu)和攝像頭；殼體上還設(shè)有位于分光結(jié)構(gòu)一側(cè)的主光束出光孔。分析校準(zhǔn)方法包括從激光發(fā)射器射出的光束中抽取光束分量形成待分析光束，照射在基準(zhǔn)面的原點(diǎn)并形成光斑；讓激光發(fā)射器中的振鏡掃描一定角度，獲得光斑實(shí)際移動(dòng)距離，并計(jì)算光斑實(shí)際移動(dòng)距離與光斑理想移動(dòng)距離的差值。本發(fā)明提供的光束質(zhì)量分析儀和激光發(fā)射器振鏡校準(zhǔn)方法，能快速獲得光束的光斑圖像，有利于提高對(duì)光束質(zhì)量分析的準(zhǔn)確性，從而提高對(duì)激光發(fā)射器的校準(zhǔn)效率。

本發(fā)明授權(quán)一種光束質(zhì)量分析儀和激光發(fā)射器振鏡校準(zhǔn)方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種光束質(zhì)量分析儀，其特征在于，包括殼體（1）和能將光束分成主光束和待分析光束的分光結(jié)構(gòu)（3），所述殼體（1）上沿光路方向依次設(shè)有物鏡（2）、所述分光結(jié)構(gòu)（3）和攝像頭（7）；殼體（1）上還設(shè)有位于分光結(jié)構(gòu)（3）一側(cè)的主光束出光孔（11）；所述分光結(jié)構(gòu)（3）包括第一棱鏡（31）；所述第一棱鏡（31）的入光反射面朝向所述物鏡（2），第一棱鏡（31）的出光面朝向所述出光孔（11）；所述攝像頭（7）設(shè)置在所述待分析光束所在的路徑上；所述分光結(jié)構(gòu)（3）還包括第二棱鏡（32）；所述第二棱鏡（32）位于物鏡（2）與第一棱鏡（31）之間的光路一側(cè)，第一棱鏡（31）的入光反射面與攝像頭（7）的鏡頭均朝向第二棱鏡（32）的反光面；所述殼體（1）上通過連接件（5）連接有擋光板（4），所述擋光板（4）位于所述物鏡（2）入光端的一側(cè)；所述擋光板（4）上設(shè)有與物鏡（2）的入光端正對(duì)的通光孔（41）；所述殼體（1）上還設(shè)有位于所述分光結(jié)構(gòu)（3）與攝像頭（7）之間的光衰減結(jié)構(gòu)（6）。

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