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龍圖騰網(wǎng)獲悉自貢硬質(zhì)合金有限責(zé)任公司申請(qǐng)的專利一種雙晶結(jié)構(gòu)硬質(zhì)合金顯微組織表征方法獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN114910394B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-22發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202210242512.3，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01N15/0227；該發(fā)明授權(quán)一種雙晶結(jié)構(gòu)硬質(zhì)合金顯微組織表征方法是由王曉靈;熊超偉;彭暉設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2022-03-11向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本一種雙晶結(jié)構(gòu)硬質(zhì)合金顯微組織表征方法在說(shuō)明書(shū)摘要公布了：本發(fā)明專利涉及一種雙晶結(jié)構(gòu)硬質(zhì)合金顯微組織的表征方法，具體而言，本發(fā)明涉及對(duì)硬質(zhì)合金的WC晶粒度及粒度分布的定量測(cè)量和表征方法，步驟包括，試樣準(zhǔn)備、圖像獲取、圖像處理、測(cè)定總體平均晶粒尺寸、測(cè)定粗晶粒的平均晶粒度dC、測(cè)定細(xì)晶粒的平均晶粒度dF，計(jì)算粗、細(xì)晶粒數(shù)比值n和粗、細(xì)晶粒粒徑比k兩個(gè)晶粒結(jié)構(gòu)參數(shù)。通過(guò)所獲得的dC、dF、n和k四個(gè)晶粒結(jié)構(gòu)參數(shù)可以對(duì)雙晶結(jié)構(gòu)硬質(zhì)合金的顯微組織進(jìn)行定量表征，有利于顯微組織的定量控制，從而控制硬質(zhì)合金的性能。

本發(fā)明授權(quán)一種雙晶結(jié)構(gòu)硬質(zhì)合金顯微組織表征方法在權(quán)利要求書(shū)中公布了：1.一種測(cè)量分析表征雙晶結(jié)構(gòu)硬質(zhì)合金顯微組織參數(shù)的方法,其采用組織中粗晶的平均粒度dC與細(xì)晶的平均粒度dF，粗、細(xì)晶平均粒度的比值k＝dCdF和粗、細(xì)晶粒數(shù)比值n＝NCNF四個(gè)參數(shù)來(lái)表征雙晶結(jié)構(gòu)硬質(zhì)合金的WC晶粒結(jié)構(gòu)特征；具體步驟如下： S1試樣準(zhǔn)備：將待測(cè)合金試樣制備金相面； S2圖像獲取：獲取金相圖像； S3圖像處理；用金相分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行處理，獲得圖像樣本； S4測(cè)定總體平均晶粒尺寸dA： S4-1對(duì)圖像樣本設(shè)置金相分析軟件參數(shù)；并設(shè)置晶粒過(guò)濾值，其中下限為L(zhǎng)min，取0或0.1μm，上限為L(zhǎng)max，該值取等于或大于圖像中最大晶粒的尺寸值dmax；按照下表設(shè)置晶粒度分級(jí)，級(jí)數(shù)為10級(jí)，組距A＝Lmax-Lmin級(jí)數(shù)-1：統(tǒng)計(jì)每一粒級(jí)的顆粒數(shù)目、顆粒比例和顆粒累計(jì)；獲得總的晶粒數(shù)量NA，總體平均晶粒度dA及其粒徑離差系數(shù)CA三個(gè)參數(shù)值； S5測(cè)定粗晶粒的平均晶粒度dC： S5-1保持步驟S4-1圖像樣本金相分析軟件參數(shù)不變；設(shè)置晶粒過(guò)濾值，下限Lmin與步驟S4-1總體平均晶粒度dA相同，即Lmin＝dA，上限Lmax與步驟S4-1上限相同，即Lmax≥dmax；按照下表設(shè)置晶粒度分級(jí)，級(jí)數(shù)為10級(jí)，組距B＝Lmax-Lmin級(jí)數(shù)-1：統(tǒng)計(jì)每一粒級(jí)的顆粒數(shù)目、顆粒比例和顆粒累計(jì)；獲得粗晶粒數(shù)量Nc，粗晶粒的平均晶粒度dc及其粒徑離差系數(shù)Cc三個(gè)參數(shù)值； S6測(cè)定細(xì)晶粒的平均晶粒度dF： S6-1保持步驟S4-1圖像樣本金相分析軟件參數(shù)不變；設(shè)置晶粒過(guò)濾值，下限Lmin與步驟S4-1晶粒過(guò)濾值下限相同，即Lmin＝0，上限Lmax與步驟S4-1總體平均晶粒度dA相同，即Lmax＝dA；按照下表設(shè)置晶粒度分級(jí)，級(jí)數(shù)為10級(jí)，組距C＝Lmax-Lmin級(jí)數(shù)-1：統(tǒng)計(jì)每一粒級(jí)的顆粒數(shù)目、顆粒比例和顆粒累計(jì)；獲得細(xì)晶粒數(shù)量NF，細(xì)晶粒的平均晶粒度dF及其粒徑離差系數(shù)CF三個(gè)參數(shù)值； 注：C為組距＝Lmax-Lmin級(jí)數(shù)-1，取正值，選取原則是使最后一級(jí)的晶粒數(shù)目趨于0； S7數(shù)據(jù)分析：由步驟S5和S6所測(cè)得的結(jié)果，可計(jì)算得出粗、細(xì)晶粒數(shù)比值n＝NCNF和粗、細(xì)晶粒粒徑比k＝dCdF兩個(gè)參數(shù)。

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