通富微電子股份有限公司張海林獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉通富微電子股份有限公司申請的專利一種芯片測試方法以及芯片測試系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114518519B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-22發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202111630172.3，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權一種芯片測試方法以及芯片測試系統是由張海林設計研發完成，并于2021-12-28向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種芯片測試方法以及芯片測試系統在說明書摘要公布了：本申請公開了一種芯片測試方法以及芯片測試系統，該芯片測試方法包括：利用芯片測試系統中的機械手對至少一個待測試芯片進行測試；其中，機械手包括第一測試站和第二測試站；響應于待測試芯片到達第二測試站，調取第一測試站對待測試芯片測試得到的第一結果，并獲得第二測試站對待測試芯片測試得到的第二結果；將第一結果和第二結果進行關聯運算以獲得待測試芯片的測試結果。通過這種設計方式，可以通過測試站點之間直接進行跨站取值，實現同一顆芯片參數性能實時比較，直接在數據中顯示出計算結果，不僅可以避免后期進行手動數據分析，而且可以直接篩選出電性能參數不穩定的潛在風險產品，從而降低產品質量風險。
本發明授權一種芯片測試方法以及芯片測試系統在權利要求書中公布了：1.一種芯片測試方法，其特征在于，包括： 利用芯片測試系統中的機械手對至少一個待測試芯片進行測試；其中，所述機械手包括第一測試站、第二測試站和位于所述第一測試站和所述第二測試站之間的至少一個中間測試站； 響應于所述待測試芯片到達所述第二測試站，調取所述第一測試站對所述待測試芯片測試得到的第一結果、所述中間測試站對所述待測試芯片測試得到的中間結果以及所述第二測試站對所述待測試芯片測試得到的第二結果；其中，所述第一結果、所述中間結果和所述第二結果包括通過所述芯片從所述第一測試站、所述至少一個中間測試站至所述第二測試站不間斷測試得到的； 將所述待測試芯片的所述第一結果和所述第二結果進行關聯運算以獲得所述待測試芯片的測試結果。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人通富微電子股份有限公司，其通訊地址為：226000 江蘇省南通市崇川路288號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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