世美特株式會(huì)社;獨(dú)立行政法人國(guó)立高等專門(mén)學(xué)校機(jī)構(gòu);國(guó)立大學(xué)法人弘前大學(xué)圓山重直獲國(guó)家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉世美特株式會(huì)社;獨(dú)立行政法人國(guó)立高等專門(mén)學(xué)校機(jī)構(gòu);國(guó)立大學(xué)法人弘前大學(xué)申請(qǐng)的專利溫度測(cè)定裝置、溫度測(cè)定方法以及溫度衰減測(cè)定方法獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號(hào)為:CN115917273B 。
龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-26發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為:202180040773.0,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G01K7/22;該發(fā)明授權(quán)溫度測(cè)定裝置、溫度測(cè)定方法以及溫度衰減測(cè)定方法是由圓山重直;岡部孝裕;井関祐也;野中崇;古川琢磨;細(xì)川靖;田畑裕太郎;松舘直史;中島利憲;東雅也;折戸學(xué)設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2021-06-15向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。
本溫度測(cè)定裝置、溫度測(cè)定方法以及溫度衰減測(cè)定方法在說(shuō)明書(shū)摘要公布了:本發(fā)明提供一種溫度測(cè)定裝置、溫度測(cè)定方法以及溫度衰減測(cè)定方法,能夠以高精度、高準(zhǔn)確性以及高速響應(yīng)性來(lái)測(cè)量被測(cè)定體的溫度,并且可將測(cè)定用薄膜感溫元件的溫度保持為比被測(cè)定體的溫度低的關(guān)系。溫度測(cè)定裝置包括:感溫部,探測(cè)溫度;測(cè)定用薄膜感溫元件,通過(guò)使所述感溫部接觸至被測(cè)定體,從而可測(cè)定溫度;保護(hù)加熱用薄膜感溫元件,與所述測(cè)定用薄膜感溫元件隔著隔熱層可進(jìn)行熱交換地配置,且受到控制,以使溫度變得與所述測(cè)定用薄膜感溫元件相等;溫度控制元件,可將所述測(cè)定用薄膜感溫元件設(shè)為比所述被測(cè)定體的溫度低固定溫度的溫度狀態(tài);以及控制處理部,控制所述測(cè)定用薄膜感溫元件、所述保護(hù)加熱用薄膜感溫元件以及所述溫度控制元件。
本發(fā)明授權(quán)溫度測(cè)定裝置、溫度測(cè)定方法以及溫度衰減測(cè)定方法在權(quán)利要求書(shū)中公布了:1.一種溫度測(cè)定裝置,其特征在于,包括: 感溫部,探測(cè)溫度; 測(cè)定用薄膜感溫元件,通過(guò)使所述感溫部接觸至被測(cè)定體,從而能夠測(cè)定溫度; 保護(hù)加熱用薄膜感溫元件,與所述測(cè)定用薄膜感溫元件隔著隔熱層能夠進(jìn)行熱交換地配置,且受到控制,以使溫度變得與所述測(cè)定用薄膜感溫元件相等; 溫度控制元件,能夠?qū)⑺鰷y(cè)定用薄膜感溫元件設(shè)為比所述被測(cè)定體的溫度低固定溫度的溫度狀態(tài);以及 控制處理部,控制所述測(cè)定用薄膜感溫元件、所述保護(hù)加熱用薄膜感溫元件以及所述溫度控制元件。
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