富泰華工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司孫國欽獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉富泰華工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司申請的專利圖像分類標注方法、裝置、電子設備及存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114943855B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-26發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202110183358.2，技術領域涉及：G06V10/764；該發明授權圖像分類標注方法、裝置、電子設備及存儲介質是由孫國欽;郭錦斌設計研發完成，并于2021-02-09向國家知識產權局提交的專利申請。
本圖像分類標注方法、裝置、電子設備及存儲介質在說明書摘要公布了：本發明提供一種圖像分類標注方法、裝置、電子設備及存儲介質。該方法包括：獲取一待測圖像；將所述待測圖像與一參考圖像對比，以生成圖像掩膜，所述圖像掩膜包括若干連通域；對所述待測圖像進行瑕疵檢測；當所述待測圖像存在至少一瑕疵時，獲取所述至少一瑕疵對應的瑕疵坐標；根據連通域的中心坐標及所述瑕疵坐標，確定對應的連通域為瑕疵連通域或正常連通域；針對所述瑕疵連通域及所述正常連通域分別生成相應的第一圖像掩膜及第二圖像掩膜；將所述第一圖像掩膜及第二圖像掩膜分別與所述待測圖像進行處理，以分別獲得與所述瑕疵連通域對應的瑕疵元件圖像及與所述正常連通域對應的正常元件圖像。本發明提供的方法，有效降低數據標注時的人力成本。
本發明授權圖像分類標注方法、裝置、電子設備及存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種圖像分類標注方法，其特征在于，所述圖像分類標注方法包括： （a）獲取一待測圖像； （b）將所述待測圖像與一參考圖像對比，以生成對應的圖像掩膜，所述圖像掩膜包括若干連通域； （c）對所述待測圖像進行瑕疵檢測； （d）當所述待測圖像存在至少一瑕疵時，獲取所述至少一瑕疵對應的瑕疵坐標； （e）根據連通域的中心坐標及所述瑕疵坐標，確定對應的連通域為瑕疵連通域或正常連通域； （f）針對所述瑕疵連通域及所述正常連通域分別生成相應的第一圖像掩膜及第二圖像掩膜； （g）將所述第一圖像掩膜及第二圖像掩膜分別與所述待測圖像進行處理，以分別獲得與所述瑕疵連通域對應的瑕疵元件圖像及與所述正常連通域對應的正常元件圖像。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人富泰華工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司，其通訊地址為：518109 廣東省深圳市龍華新區觀瀾街道大三社區富士康觀瀾科技園B區廠房4棟、6棟、7棟、13棟(Ⅰ段)；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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