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龍圖騰網獲悉東京毅力科創株式會社申請的專利溫度測量系統和溫度測量方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN112697295B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202011060754.8，技術領域涉及：G01K11/00；該發明授權溫度測量系統和溫度測量方法是由吳同;永井健治設計研發完成，并于2020-09-30向國家知識產權局提交的專利申請。

本溫度測量系統和溫度測量方法在說明書摘要公布了：本公開涉及溫度測量系統和溫度測量方法。對具有第一及與第一主表面相向的第二主表面的測定對象物的溫度進行測量，具備：光源部，其產生輸出光，所述輸出光包括第一及第二波長范圍，所述輸出光透過測定對象物；測定部，其測定來自第一及第二主表面的反射光的光譜；光程比計算部，其通過對光譜進行傅立葉變換來計算光程比，所述光程比為關于第一波長范圍的輸出光的光程與關于第二波長范圍的輸出光的光程之比；以及溫度計算部，其基于光程比及預先獲取到的折射率比與測定對象物的溫度之間的關系來計算測定對象物的溫度，所述折射率比為關于第一波長范圍的輸出光的在測定對象物的折射率與關于第二波長范圍的輸出光的在測定對象物的折射率。

本發明授權溫度測量系統和溫度測量方法在權利要求書中公布了：1.一種溫度測量系統，用于對具有第一主表面及與所述第一主表面相向的第二主表面的測定對象物的溫度進行測量，其特征在于，所述溫度測量系統具備： 光源部，其用于產生輸出光，所述輸出光包括第一波長范圍及與所述第一波長范圍不同的第二波長范圍，所述輸出光透過所述測定對象物； 至少一個光學元件，其向所述測定對象物的所述第一主表面射出來自所述光源部的所述輸出光，并且來自所述第一主表面和所述第二主表面的反射光入射到該至少一個光學元件； 測定部，其與所述至少一個光學元件連接，來測定依賴于波長的來自所述第一主表面和所述第二主表面的所述反射光的光譜； 光程比計算部，其通過對由所述測定部測定出的所述光譜進行傅立葉變換來計算光程比，所述光程比為關于所述第一波長范圍的所述輸出光的光程即第一光程與關于所述第二波長范圍的所述輸出光的光程即第二光程之比；以及 溫度計算部，其基于所述光程比及預先獲取的折射率比與所述測定對象物的溫度之間的關系，來計算所述測定對象物的溫度，所述折射率比為關于所述第一波長范圍的所述輸出光的在所述測定對象物的折射率即第一折射率與關于所述第二波長范圍的所述輸出光的在所述測定對象物的折射率即第二折射率之比。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人東京毅力科創株式會社，其通訊地址為：日本東京都；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。