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龍圖騰網獲悉北京航空航天大學申請的專利一種宇生μ子定位特征圖的快速識別方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120427012B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-02發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510934040.1，技術領域涉及：G01C21/20；該發明授權一種宇生μ子定位特征圖的快速識別方法是由楊艷強;李皓陽;張姮;吳嘉薇;田龍杰;張春熹;李立京;程景春;劉文釗;程浩;李天琦;施亨憲設計研發完成，并于2025-07-08向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種宇生μ子定位特征圖的快速識別方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種宇生μ子定位特征圖的快速識別方法，步驟為：S1、持續采集各導航段上的μ子散射數據，得到宇生μ子成像特征圖像并構建導航路徑成像數據集；S2、提取相同位置、不同時間下的一對宇生μ子成像特征圖像的Harris角點列表及其二進制描述子；S3、對相同位置、不同時間下的先后兩幅宇生μ子成像特征圖像的Harris角點進行特征點匹配；S4、根據特征匹配結果對圖像進行可視化處理，得到具有清晰邊界成像物體的宇生μ子成像特征圖像；該方法實現了宇生μ子成像識別速度的大幅提升，保證在宇生μ子成像需求下的導航實時性；經過實際應用驗證，該方法可在更短時間內實現相當于十倍時間μ子定位特征圖的特征識別效果。

本發明授權一種宇生μ子定位特征圖的快速識別方法在權利要求書中公布了：1.一種宇生μ子定位特征圖的快速識別方法，其特征在于，步驟為： S1、將導航路徑劃分為多個導航段，持續采集各導航段上的μ子散射數據，包括μ子穿入和穿出導航段的時間、以及μ子穿入和穿出導航段的位置；依次將各導航段內時間長度T累計的μ子散射數據用于成像，T設置為20min~100min；對成像得到的宇生μ子成像特征圖以“成像時間a-位置b”命名，并用于構建導航路徑成像數據集； S2、對由步驟S1獲取的相同位置、不同時間下的一對先后形成的宇生μ子成像特征圖像進行處理，以分別提取宇生μ子成像特征圖像中的Harris角點列表、及各Harris角點的二進制描述子； S3、對步驟S2中兩幅宇生μ子成像特征圖像分別提取得到Harris角點進行特征點匹配，得到兩幅圖像之間的多個特征匹配點對列表； S4、根據步驟S3得到的匹配結果對宇生μ子成像特征圖像進行可視化處理，得到具有清晰邊界成像物體的宇生μ子成像特征圖像。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京航空航天大學，其通訊地址為：100191 北京市海淀區學院路37號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。