全芯智造技術有限公司請求不公布姓名獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉全芯智造技術有限公司申請的專利用于檢測缺陷的方法、設備和計算機可讀存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN113269255B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202110580668.8，技術領域涉及：G06V10/774；該發明授權用于檢測缺陷的方法、設備和計算機可讀存儲介質是由請求不公布姓名設計研發完成，并于2021-05-26向國家知識產權局提交的專利申請。
本用于檢測缺陷的方法、設備和計算機可讀存儲介質在說明書摘要公布了：根據本公開的示例實施例，提供了用于檢測缺陷的方法、設備和計算機可讀存儲介質。在接收到將要用于訓練缺陷檢測模型的候選圖像集后，從已用于訓練缺陷檢測模型的歷史圖像集中選擇一組歷史圖像。候選圖像集和歷史圖像集中的圖像包括與圖像中的對象有關的缺陷。從候選圖像集中確定一組代表性圖像。代表性圖像能夠反映候選圖像集中的多個不同圖像的圖像特征。然后，至少基于所選擇的一組歷史圖像和一組代表性圖像，訓練缺陷檢測模型。經訓練的缺陷檢測模型用于檢測與待檢測圖像中的對象有關的缺陷。本公開的實施例能夠加速缺陷檢測模型的增量訓練。
本發明授權用于檢測缺陷的方法、設備和計算機可讀存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種訓練缺陷檢測模型的方法，包括： 響應于接收到將要用于訓練所述缺陷檢測模型的候選圖像集，從已用于訓練所述缺陷檢測模型的歷史圖像集中選擇一組歷史圖像，所述候選圖像集和所述歷史圖像集中的圖像包括與圖像中的對象有關的缺陷； 從所述候選圖像集中確定一組代表性圖像，所述一組代表性圖像中的每個圖像反映所述候選圖像集中的多個不同圖像的圖像特征；以及 至少基于所述一組歷史圖像和所述一組代表性圖像，訓練所述缺陷檢測模型，以用于檢測與待檢測圖像中的對象有關的缺陷， 其中從所述候選圖像集中確定所述一組代表性圖像包括： 基于所述候選圖像集中的每個候選圖像的圖像特征，將所述候選圖像集劃分成候選圖像的多個分組；以及 從所述多個分組中的每個分組中選擇至少一個候選圖像以組合成所述一組代表性圖像， 其中從每個分組中所選擇的候選圖像的數目與相應分組中的候選圖像的數目有關。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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