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龍圖騰網獲悉華虹半導體(無錫)有限公司申請的專利獲取測試數據的方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115309655B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-08發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211047964.2，技術領域涉及：G06F11/3668；該發明授權獲取測試數據的方法及系統是由周超;王善屹設計研發完成，并于2022-08-30向國家知識產權局提交的專利申請。

本獲取測試數據的方法及系統在說明書摘要公布了：本發明提供一種獲取測試數據的方法及系統，其中方法包括：將多個晶圓的測試數據信息上傳至云存儲空間；對晶圓進行排序，定義晶圓平面坐標系與云存儲空間的坐標系之間的函數關系；將每項測試數據信息賦值給云存儲空間的坐標對應的云存儲空間內；將待測試的晶圓的序號與待調用的晶圓的序號進行比對；將待調用的晶圓的坐標與云存儲空間的坐標進行匹配。本申請通過將芯片測試數據信息上傳至云存儲空間，然后將待測試的晶圓的序號、坐標與云存儲空間的晶圓的序號、坐標分別進行匹配，匹配成功就從云存儲空間調用芯片的所有die的對應測試項的測試數據信息，解決了芯片測試中如何安全存儲各階段產生的測試數據、高效獲取調用上述測試數據的問題。

本發明授權獲取測試數據的方法及系統在權利要求書中公布了：1.一種獲取測試數據的方法，其特征在于，包括： 第一步驟：利用ATE測試機臺將多個晶圓的所有測試數據信息上傳至云存儲空間，其中，每個晶圓包括若干die，每個die均包含多個測試項的測試數據信息； 第二步驟：對上傳測試數據信息的所有晶圓進行排序，并定義晶圓的平面坐標系與云存儲空間的坐標系之間的函數關系； 第三步驟：將每個die的每個測試項的測試數據信息賦值給對應的云存儲空間的坐標對應的云存儲空間內，以使每個die的每個測試項的測試數據信息均獨立存放于單獨的所述云存儲空間內； 第四步驟：根據待測試的晶圓的序號，選取一待調用的晶圓的序號； 第五步驟：將所述待測試的晶圓的序號與所述待調用的晶圓的序號進行比對，若所述待測試的晶圓的序號與所述待調用的晶圓的序號相同，則獲取所述待調用的晶圓的所有die的坐標； 第六步驟：根據晶圓的平面坐標系與云存儲空間的坐標系之間的函數關系，將所述待調用的晶圓的坐標與云存儲空間的坐標進行匹配，若所述待調用的晶圓的坐標與云存儲空間的坐標匹配成功，則將云存儲空間匹配成功的坐標對應的所述云存儲空間中的所述待調用的晶圓的所有die的對應測試項的測試數據信息輸出。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人華虹半導體(無錫)有限公司，其通訊地址為：214028 江蘇省無錫市新吳區新洲路30號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。