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龍圖騰網獲悉中國電子科技集團公司第十五研究所;中電科(北京)信息測評認證有限公司申請的專利一種用于測試對稱密碼組件安全性的系統及方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115186253B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-08發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210785240.1，技術領域涉及：G06F21/46；該發明授權一種用于測試對稱密碼組件安全性的系統及方法是由李艷俊;劉健;王克;張偉國設計研發完成，并于2022-06-29向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種用于測試對稱密碼組件安全性的系統及方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種用于測試對稱密碼組件安全性的系統及方法，所述系統包括：S盒測試模塊，用于測試所述對稱密碼組件S盒的密碼性能，包括差分均勻度子模塊、非線性度子模塊、不動點個數子模塊、代數次數與項數子模塊、代數免疫度子模塊、雪崩子模塊、擴散子模塊；P置換測試模塊用于測試所述對稱密碼組件P置換的擴散性能，所述P置換測試模塊包括演示子模塊、二元域矩陣測試子模塊、GF2n矩陣測試子模塊；最小擴散輪數測試模塊，所述最小擴散輪數測試模塊用于測試所述對稱密碼組件廣義Feistel結構的最小擴散輪數和對應拉線。該系統創新了S盒、P置換、最小擴散輪數以及拉線的相關指標的計算方式，提高了測試效率及測試準確率。

本發明授權一種用于測試對稱密碼組件安全性的系統及方法在權利要求書中公布了：1.一種用于測試對稱密碼組件安全性的系統，其特征在于，包括： S盒測試模塊，用于測試對稱密碼組件S盒的密碼性能，S盒測試模塊包括差分均勻度子模塊、非線性度子模塊、不動點個數子模塊、代數次數與項數子模塊、代數免疫度子模塊、雪崩子模塊、擴散子模塊； P置換測試模塊，用于測試對稱密碼組件P置換的擴散性能，P置換測試模塊包括演示子模塊、二元域矩陣測試子模塊、GF2n矩陣測試子模塊； 最小擴散輪數測試模塊，用于測試對稱密碼組件廣義Feistel結構的最小擴散輪數和對應拉線； 所述最小擴散輪數測試模塊用于測試所述對稱密碼組件廣義Feistel結構的最小擴散輪數和對應拉線；所述最小擴散輪數測試模塊接收第十一輸入數據，所述第十一輸入數據為分塊數q，q為偶數； 所述對稱密碼組件廣義Feistel結構的最小擴散輪數和對應拉線的計算方法為： 步驟S31：對于輸入q，設r＝q，令排列置換δ為δii； 步驟S32：若已經得到q個備選擴散輪數Rejj，進入步驟S35；否則，令Y＝[Y0,Y1,…Yq-1]＝ejj，Y0,Y1,…Yq-1為Y的q個分量，ejj為第jj個分量為1其余分量為0的q維向量； 步驟S33：將輸入Y＝[Y0,Y1,…Yq-1]進行以下第R輪操作： [Y0,Y1,…Yq-1]奇數位的數值不變，偶數位與奇數位進行或運算，得到[Y′0,Y′1,…Y′q-1]； 經過置換δii移動[Y′0,Y′1,…Y′q-1]的對應塊，得到[Z0,Z1,…Zq-1]； 更新Y為[Z0,Z1,…Zq-1]； 若[Y0,Y1,…Yq-1]的q個分量不是全為1，且Rq，則將R賦值為R+1，進入步驟S33，否則輸出備選擴散輪數Rejj； 步驟S34：將jj賦值為jj+1，進入步驟S32； 步驟S35：擴散輪數R＝min{Rejj|1≤jj≤q}，并輸出R和對應的拉線置換δii； 步驟S36：若Rr，令r＝R，若所有排列置換未處理完，則將排列置換δ更新為δii+1，備選擴散輪數的個數清零，進入步驟S32；否則輸出r和對應的排列置換δ。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國電子科技集團公司第十五研究所;中電科(北京)信息測評認證有限公司，其通訊地址為：100083 北京市海淀區北四環中路211號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。