河北大學劉承潤獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉河北大學申請的專利一種計算機輔助下的等離子體器件光電轉換效率檢測方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120260702B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510751797.7，技術領域涉及：G16C10/00；該發明授權一種計算機輔助下的等離子體器件光電轉換效率檢測方法是由劉承潤;李沛然;高天朗設計研發完成，并于2025-06-06向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種計算機輔助下的等離子體器件光電轉換效率檢測方法在說明書摘要公布了：本發明涉及計算機輔助設計技術領域，具體涉及一種計算機輔助下的等離子體器件光電轉換效率檢測方法，該方法包括：根據每個預設薄膜厚度下的等離子體器件在不同預設時刻下采集的不同預設激光能量密度下的薄膜電阻，確定每個預設薄膜厚度對應的電學性能整體表現值；對預設薄膜厚度下的等離子體器件對應的反射光譜曲線進行分段，并對分段進行直線擬合；確定預設薄膜厚度對應的光電轉換穩定指標；根據光電轉換穩定指標和IPCE值，對每個預設薄膜厚度下的等離子體器件進行光電轉換效率檢測。本發明在進行光電轉換效率檢測時綜合考慮了光電轉換穩定指標和IPCE值，從而提高了不同薄膜厚度下的等離子體器件光電轉換效率檢測的準確度。
本發明授權一種計算機輔助下的等離子體器件光電轉換效率檢測方法在權利要求書中公布了：1.一種計算機輔助下的等離子體器件光電轉換效率檢測方法，其特征在于，包括以下步驟： 根據每個預設薄膜厚度下的等離子體器件在不同預設時刻下采集的不同預設激光能量密度下的薄膜電阻，確定每個預設薄膜厚度對應的電學性能整體表現值； 獲取每個預設薄膜厚度下的等離子體器件對應的反射光譜曲線，并對每個反射光譜曲線進行分段，得到目標子曲線； 對每個目標子曲線進行直線擬合，得到每個目標子曲線對應的擬合誤差； 根據不同預設薄膜厚度下的等離子體器件對應的電學性能整體表現值及其對應的所有目標子曲線對應的擬合誤差，確定每個預設薄膜厚度對應的光電轉換穩定指標； 根據每個預設薄膜厚度對應的光電轉換穩定指標，以及預先獲取的每個預設薄膜厚度下的等離子體器件對應的IPCE值，對每個預設薄膜厚度下的等離子體器件進行光電轉換效率檢測。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人河北大學，其通訊地址為：071000 河北省保定市五四東路180號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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