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龍圖騰網獲悉中國人民解放軍國防科技大學申請的專利一種光學元件控時磨削面形測量系統及面形測量方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115533675B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211255656.9，技術領域涉及：B24B13/00；該發明授權一種光學元件控時磨削面形測量系統及面形測量方法是由戴一帆;胡皓;孫梓洲;彭小強;關朝亮;賴濤設計研發完成，并于2022-10-13向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種光學元件控時磨削面形測量系統及面形測量方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種光學元件控時磨削面形測量系統，包括床身，床身上設有沿X軸做直線運動的工件安裝座和沿Y軸和Z軸運動的控時磨削加工平臺，控時磨削加工平臺上設有控時磨削加工裝置、用于測量控時磨削加工平臺在Z軸方向位移變化量δL2x,y的第一測量裝置和用于測量與工件面距離L3x,y的第二測量裝置。還公開了一種光學元件控時磨削面形測量方法，包括步驟：校準；提取誤差；確定測量起始點及建立測量坐標系；獲得工件面形實際數據。本光學元件控時磨削面形測量系統及面形測量方法能夠實現光學元件加工的在位測量，降低了因搬運和重復裝夾對工件加工精度與效率的影響，提高了測量效率，做到了加工檢測一體化。

本發明授權一種光學元件控時磨削面形測量系統及面形測量方法在權利要求書中公布了：1.一種光學元件控時磨削面形測量方法，其特征在于：采用光學元件控時磨削面形測量系統進行，所述光學元件控時磨削面形測量系統包括床身（6）和數控模塊，所述床身（6）上設有沿X軸做直線運動的工件安裝座（1）和沿Y軸和Z軸運動的控時磨削加工平臺（2），所述控時磨削加工平臺（2）上設有控時磨削加工裝置（3）、用于測量控時磨削加工平臺（2）在Z軸方向位移變化量δL2x,y的第一測量裝置（4）和用于測量與工件面（A）距離L3x,y的第二測量裝置（5），所述第一測量裝置（4）和第二測量裝置（5）均與數控模塊信號連接，所述光學元件控時磨削面形測量方法包括如下步驟： 步驟S1、校準：對第一測量裝置（4）和第二測量裝置（5）進行標定和校準； 步驟S2、提取誤差：提取工件安裝座（1）在Z軸方向的跳動誤差L1x,y； 步驟S3、確定測量起始點及建立測量坐標系； 步驟S4、獲得工件面形實際數據：向數控模塊中輸入工件面形理論數據，得到控時磨削加工平臺（2）的預定運行軌跡、工件安裝座（1）的進給量和補償系數k，控時磨削加工平臺（2）和工件安裝座（1）配合運行，測量工件面（A）每一處的測量數值ΣLx,y， ΣLx,y=L1x,y+δL2x,y+k*L3x,y，即為工件面形實際數據。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國人民解放軍國防科技大學，其通訊地址為：410073 湖南省長沙市開福區硯瓦池正街47號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。