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龍圖騰網(wǎng)獲悉中國科學(xué)院微電子研究所申請的專利一種芯片固件定位分析方法、系統(tǒng)、裝置和電子設(shè)備獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN114487509B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-12發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202210125483.2，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R1/04；該發(fā)明授權(quán)一種芯片固件定位分析方法、系統(tǒng)、裝置和電子設(shè)備是由馬子儀;趙發(fā)展設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2022-02-10向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種芯片固件定位分析方法、系統(tǒng)、裝置和電子設(shè)備在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開一種芯片固件定位分析方法、系統(tǒng)、裝置和電子設(shè)備，涉及芯片技術(shù)領(lǐng)域。方法包括：遍歷所有輸入接口，多次分別確定每個輸入接口為處于正常工作狀態(tài)下的目標(biāo)待測輸入接口時對應(yīng)的待測芯片固件的磁場圖像數(shù)據(jù)；基于多個磁場圖像數(shù)據(jù)，確定待測芯片中同一位置不同導(dǎo)線的深度分布數(shù)據(jù)；基于待測芯片中同一位置不同導(dǎo)線的深度分布數(shù)據(jù)，確定待測芯片固件的配置信息流的流動方向；基于金剛石氮空位色心傳感器對待測芯片進(jìn)行掃描，基于分析配置信息流的流動方向完成對待測芯片固件的定位分析，可以在不損壞待測芯片的情況下實(shí)現(xiàn)對待測芯片內(nèi)寄存器的定位，提高了固件定位分析的準(zhǔn)確性和可靠性。

本發(fā)明授權(quán)一種芯片固件定位分析方法、系統(tǒng)、裝置和電子設(shè)備在權(quán)利要求書中公布了：1.一種芯片固件定位分析方法，其特征在于，應(yīng)用于包括金剛石氮空位色心傳感器和設(shè)置在所述金剛石氮空位色心傳感器上的待測芯片的電子設(shè)備中，所述待測芯片包括芯片固件和多個輸入接口，所述方法包括： 在將所述待測芯片設(shè)置為初始狀態(tài)的情況下，控制多個所述輸入接口中每次存在一個處于正常工作狀態(tài)的目標(biāo)待測輸入接口； 遍歷所有所述輸入接口，多次分別確定每個所述輸入接口為處于正常工作狀態(tài)下的所述目標(biāo)待測輸入接口時對應(yīng)的所述芯片固件的磁場圖像數(shù)據(jù)； 基于多個所述磁場圖像數(shù)據(jù)，確定所述待測芯片中同一位置不同導(dǎo)線的深度分布數(shù)據(jù)； 基于所述待測芯片中同一位置不同導(dǎo)線的所述深度分布數(shù)據(jù)，結(jié)合相鄰兩次的所述磁場圖像數(shù)據(jù)，確定所述芯片固件的配置信息流的流動方向； 基于所述金剛石氮空位色心傳感器對所述待測芯片進(jìn)行掃描，基于分析配置信息流的流動方向完成對所述芯片固件的定位分析。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人中國科學(xué)院微電子研究所，其通訊地址為：100029 北京市朝陽區(qū)北土城西路3號；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。