北京航空航天大學田捷獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉北京航空航天大學申請的專利基于數據重排的磁粒子成像方法和系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120219554B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510697716.X，技術領域涉及：G06T11/00；該發明授權基于數據重排的磁粒子成像方法和系統是由田捷;李光輝;安羽;劉晏君;李怡濛;陳梓威設計研發完成，并于2025-05-28向國家知識產權局提交的專利申請。
本基于數據重排的磁粒子成像方法和系統在說明書摘要公布了：本發明屬于磁性納米粒子成像技術領域，涉及了基于數據重排的磁粒子成像方法和系統，旨在解決現有技術中重復掃描現象導致相鄰像素間信息混疊的問題。本發明方法包括：生成第一磁場并啟動第二磁場；第一磁場進行一維掃描并進行圖像重建：采集第二磁場的時序波形和磁納米粒子的時序電壓響應信號；對第二磁場的時序波形分段，提取各波形分段的片段進行重構為正弦序列同時記錄索引，基于索引重排電壓響應信號，生成一維重建結果；在一維圖像進行數據重排的基礎上構建二維圖像。本發明提取各波形分段的片段進行重構，重新排列拼接時序信號，從而實現對混疊的信息進行重排和解析，減少重建過程中的偏差和模糊現象，提高圖像空間分辨率。
本發明授權基于數據重排的磁粒子成像方法和系統在權利要求書中公布了：1.一種基于數據重排的磁粒子成像方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟： S100、生成第一磁場，設置第二磁場為激勵磁場并啟動第二磁場；所述第一磁場為磁場自由點或磁場自由線； S200、驅動第一磁場進行一維掃描，并進行圖像重建： S201、采集所述第二磁場的時序波形和磁納米粒子的時序電壓響應信號，并將所述時序波形及所述時序電壓響應信號在幅度軸上均勻分段，獲得波形片段及電壓響應信號片段；所述波形片段及電壓響應信號片段一一對應； S202、提取每一分段的所述波形片段并重構，獲得重構后的正弦序列；對每一個正弦序列分配唯一索引并將所述索引進行記錄； S203、基于所述索引重新排列對應的所述電壓響應信號片段，獲得時序重排響應信號； S204、提取各分段所述時序重排響應信號的最大值，并按照分段順序拼接，獲得一維重建結果； S300、基于所述一維重建結果，采用設定掃描方式構建二維圖像；所述設定掃描方式包括逐行掃描、離散旋轉多角度。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京航空航天大學，其通訊地址為：100083 北京市海淀區學院路37號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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