廈門三優光電股份有限公司黃振東獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉廈門三優光電股份有限公司申請的專利基于原子自旋進動的超高精度分光檢測裝置獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115144000B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-19發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202210644473.X,技術領域涉及:G01D5/26;該發明授權基于原子自旋進動的超高精度分光檢測裝置是由黃振東;邱名武;江天;阮陳強;饒華斌設計研發完成,并于2022-06-09向國家知識產權局提交的專利申請。
本基于原子自旋進動的超高精度分光檢測裝置在說明書摘要公布了:本發明公開基于原子自旋進動的超高精度分光檢測裝置,其中,包括準直透鏡、兩個偏振分光棱鏡、雙折射晶體、14波片、原子氣室、三個反射棱鏡、12波片和三個探測器,將雜亂無章的入射光,經過準直后經過PBS偏振分光棱鏡能把入射的非偏振光分成兩束偏振態垂直的線偏光,用兩個分路同時進行線偏振差分檢測和圓偏振干涉檢測,精度自然更高更靈敏,另外通過光纖拉錐便捷擴展成陣列式結構使精度更高。
本發明授權基于原子自旋進動的超高精度分光檢測裝置在權利要求書中公布了:1.基于原子自旋進動的超高精度分光檢測裝置,其特征在于:包括準直透鏡、兩個偏振分光棱鏡、雙折射晶體、14波片、原子氣室、三個反射棱鏡、12波片和三個探測器,準直透鏡設在入設光路上,正對準直透鏡設有將入射光分成兩路線偏振光的第一偏振分光棱鏡,在第一偏振分光棱鏡的第一路線偏振光光路上緊貼設置將第一路線偏振光分成兩路的雙折射晶體,在雙折射晶體上設有將前述兩路線偏振光轉換成左右圓偏振光的14波片,在第一偏振分光棱鏡的第二路線偏振光路上緊貼設置將該線偏振光反射與第一路線偏振光平行的第一反射棱鏡;正對14波片設有原子氣室,原子氣室上貼設正對第一反射棱鏡并將第二路線偏振光反射到原子氣室第二反射棱鏡;在原子氣室線偏振光路上依次設有12波片和第二偏振分光棱鏡,第二偏振分光棱鏡的分光光路上設有第三反射棱鏡,在第二偏振分光棱鏡的兩個光路上分別設有第一和第二探測器;原子氣室的圓偏振光路上設有第三探測器。
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