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龍圖騰網獲悉青島歌爾微電子研究院有限公司申請的專利一種SIP模組貼裝前的首件檢驗方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114563600B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-19發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210188097.8，技術領域涉及：G01R1/04；該發明授權一種SIP模組貼裝前的首件檢驗方法是由張云倩;柯于洋;尹華鋼設計研發完成，并于2022-02-28向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種SIP模組貼裝前的首件檢驗方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種SIP模組貼裝前的首件檢驗方法，基于包括LCR測試儀、器件夾具及終端操控裝置的檢驗系統；方法：S1、將首件SIP模組放在測試臺上；S2、器件夾具夾持其上元器件，LCR測試儀進行檢測并將檢測數據傳給操控終端裝置；S3、判定檢測數據是否在第一閾值范圍內；是，元器件正常并執行S5，否，執行S4；S4、元器件是電容且介質為X5R或X7R時；對電容精度補償并獲得第二閾值范圍，判斷檢測數據是否在第二閾值范圍內，是，元器件正常；否，元器件異常；執行S5；S5、判斷是否還有元器件需要測試；若是返回S2，若否結束校驗。本發明可針對有老化特征的電容進行快速有效檢驗，提高了檢驗效率和工藝的整體進度。

本發明授權一種SIP模組貼裝前的首件檢驗方法在權利要求書中公布了：1.一種SIP模組貼裝前的首件檢驗方法，基于檢驗系統；其特征在于，所述檢驗系統包括LCR測試儀、與所述LCR測試儀電連接的器件夾具以及與所述LCR測試儀電連接的終端操控裝置；所述方法包括LCR校驗步驟，所述LCR校驗步驟包括： S1、將首件完成貼片工藝的SIP模組放置在所述LCR測試儀旁的測試臺上； S2、利用所述器件夾具夾持所述SIP模組的一個元器件，所述LCR測試儀對被夾持的所述元器件進行檢測，并將檢測數據傳送給所述終端操控裝置； S3、所述終端操控裝置判定所述檢測數據是否在與該所述元器件相對應的第一閾值范圍內；若是，所述元器件正常并執行步驟S5，若否，執行步驟S4； S4、當所述終端操控裝置判定所述元器件是電容，且所述電容的介質信息為X5R或X7R時；所述終端操控裝置對所述電容的精度進行補償并獲得第二閾值范圍，繼續判斷所述檢測數據是否在所述第二閾值范圍內，若是，所述元器件正常并執行步驟S5；若否，所述元器件異常并執行步驟S5； S5、判斷所述SIP模組上是否還有所述元器件需要測試，若是，返回步驟S2；若否，結束LCR校驗。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人青島歌爾微電子研究院有限公司，其通訊地址為：266101 山東省青島市嶗山區科苑緯一路1號青島國際創新園二期F樓；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。