意法半導體股份有限公司L·奎利諾尼獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉意法半導體股份有限公司申請的專利微機電陀螺儀和補償微機電陀螺儀中的輸出熱漂移的方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN114563013B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-19發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202111424200.6,技術領域涉及:G01C25/00;該發明授權微機電陀螺儀和補償微機電陀螺儀中的輸出熱漂移的方法是由L·奎利諾尼;L·G·法羅尼設計研發完成,并于2021-11-26向國家知識產權局提交的專利申請。
本微機電陀螺儀和補償微機電陀螺儀中的輸出熱漂移的方法在說明書摘要公布了:本公開的實施例涉及微機電陀螺儀和補償微機電陀螺儀中的輸出熱漂移的方法。微機電陀螺儀包括:支撐結構;感測質量塊,其以沿著驅動方向和感測方向的自由度被耦合至支撐結構,驅動方向和感測方向彼此垂直;以及校準結構,其面向感測質量塊并且通過具有平均寬度的間隙而與感測質量塊分離,校準結構相對于感測質量塊可移動,使得校準結構的位移引起間隙平均寬度的變化。校準致動器控制校準結構相對于感測質量塊的相對位置以及間隙的平均寬度。
本發明授權微機電陀螺儀和補償微機電陀螺儀中的輸出熱漂移的方法在權利要求書中公布了:1.一種微機電陀螺儀,包括: 支撐結構; 感測質量塊,其以沿驅動方向以及感測方向的自由度耦合到所述支撐結構,所述驅動方向與所述感測方向彼此垂直; 校準結構,其面向所述感測質量塊、并且通過具有平均寬度的間隙與所述感測質量塊間隔開,所述校準結構相對于所述感測質量塊可移動,使得所述校準結構的位移引起所述間隙的所述平均寬度的變化;以及 校準致動器,其被配置為控制所述校準結構相對于所述感測質量塊的相對位置和所述間隙的所述平均寬度。
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