株式會社三豐淺野秀光獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉株式會社三豐申請的專利X射線CT裝置及其校正方法和裝置、測定方法和裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN112535490B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-19發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202010983851.8，技術領域涉及：A61B6/03；該發明授權X射線CT裝置及其校正方法和裝置、測定方法和裝置是由淺野秀光;今正人設計研發完成，并于2020-09-18向國家知識產權局提交的專利申請。
本X射線CT裝置及其校正方法和裝置、測定方法和裝置在說明書摘要公布了：本發明涉及一種X射線CT裝置及其校正方法和裝置、測定方法和裝置，在使尺寸預先已知的球形校正治具30與被檢體W接觸的狀態下進行CT掃描來生成體數據，獲取該體數據中的被檢體W表面形狀的輪廓，并且根據球形校正治具30的中心坐標來計算球形校正治具30的邊界面，求出用于使根據所述輪廓的斜率求出的被檢體W的邊界面與球形校正治具30的邊界面一致的校正值，使用該校正值來校正被檢體W的邊界面，使用該校正后的邊界面來求出被檢體W的形狀。由此，通過高精度地檢測被檢體的邊界面來實現測量用X射線CT的高精度化。
本發明授權X射線CT裝置及其校正方法和裝置、測定方法和裝置在權利要求書中公布了：1.一種測量用X射線CT裝置的校正方法，其特征在于， 所述測量用X射線CT裝置一邊使配置于旋轉臺上的被檢體旋轉一邊照射X射線，重建被檢體的投影圖像來生成被檢體的斷層圖像，在進行所述測量用X射線CT裝置的校正時， 在使尺寸預先已知的球形校正治具與被檢體接觸的狀態下進行CT掃描來生成體數據， 獲取所述體數據中的被檢體表面形狀的輪廓，并且根據球形校正治具的中心坐標來計算球形校正治具的邊界面， 求出用于使根據所述輪廓的斜率求出的被檢體的邊界面與球形校正治具的邊界面一致的校正值。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人株式會社三豐，其通訊地址為：日本神奈川縣；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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