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龍圖騰網(wǎng)獲悉廣州創(chuàng)天電子科技有限公司申請的專利一種芯片電容器檢測設(shè)備獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN112007868B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-19發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202010779185.6，技術(shù)領(lǐng)域涉及：B07C5/02；該發(fā)明授權(quán)一種芯片電容器檢測設(shè)備是由吳浩;謝華;車瑞飛;辛廣興;陳松磨設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2020-08-05向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種芯片電容器檢測設(shè)備在說明書摘要公布了：本發(fā)明屬于芯片電容器測試領(lǐng)域，具體涉及一種芯片電容器檢測設(shè)備，包括用于芯片電容器上料的上料裝置，用于檢測芯片電容器電性能的電性能檢測裝置，用于收納電性能不良品的電性能不良品料盤，用于測試芯片電容器外觀的外觀檢測裝置，用于收納傳送檢測合格的芯片電容器的合格品下料裝置，用于收納外觀不良品的外觀不良料盤，用于吸附抓取芯片電容器，并轉(zhuǎn)動變換芯片電容器的工位的轉(zhuǎn)盤傳送裝置；其中，上料裝置、電性能檢測裝置、電性能不良品料盤、外觀檢測裝置、合格品下料裝置、外觀不良料盤成圓形依次排列在轉(zhuǎn)盤傳送裝置的外側(cè)。

本發(fā)明授權(quán)一種芯片電容器檢測設(shè)備在權(quán)利要求書中公布了：1.一種芯片電容器檢測設(shè)備，其特征在于，包括： 上料裝置，用于芯片電容器上料； 電性能檢測裝置，用于檢測芯片電容器電性能； 電性能不良品料盤，用于收納電性能不良品； 外觀檢測裝置，用于測試芯片電容器外觀； 合格品下料裝置，用于收納傳送檢測合格的芯片電容器； 外觀不良料盤，用于收納外觀不良品； 轉(zhuǎn)盤傳送裝置，用于吸附抓取芯片電容器，并轉(zhuǎn)動變換芯片電容器的工位； 其中，上料裝置、電性能檢測裝置、電性能不良品料盤、外觀檢測裝置、合格品下料裝置、外觀不良料盤成圓形依次排列在轉(zhuǎn)盤傳送裝置的外側(cè)； 所述轉(zhuǎn)盤傳送裝置包括：第一轉(zhuǎn)盤，用于驅(qū)動第一轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動的第一轉(zhuǎn)盤驅(qū)動機(jī)構(gòu)，用于吸附抓取芯片電容器的第一導(dǎo)電吸嘴，用于調(diào)整第一導(dǎo)電吸嘴位置的第一位置調(diào)整機(jī)構(gòu)，用于推動第一導(dǎo)電吸嘴向下運(yùn)動的吸嘴氣缸機(jī)構(gòu)，以及為第一導(dǎo)電吸嘴提供彈性上升力的彈性上升機(jī)構(gòu)；其中，所述第一位置調(diào)整機(jī)構(gòu)設(shè)置在第一轉(zhuǎn)盤上，所述吸嘴上下滑動的設(shè)置在第一位置調(diào)整機(jī)構(gòu)上，所述彈性上升機(jī)構(gòu)設(shè)置在第一導(dǎo)電吸嘴和第一位置調(diào)整機(jī)構(gòu)之間，所述吸嘴氣缸機(jī)構(gòu)設(shè)置在第一轉(zhuǎn)盤上方； 所述電性能檢測裝置包括測試架，設(shè)置在測試架上的第一電極測試臺，設(shè)置在第一電極測試臺上方可伸縮的第二電極頂針，以及用于芯片電容器電性能測試的測試儀，所述第一電極測試臺、第二電極頂針與測試儀相連接，所述第二電極頂針滑動穿設(shè)在測試架上；其中，所述第一導(dǎo)電吸嘴吸附抓取芯片電容器且與其一電極板連接并向下移動，依次完成第一導(dǎo)電吸嘴的側(cè)面與第二電極頂針接觸，以及芯片電容器作為另一電極板的下端與第一電極測試臺接觸，形成測試回路。

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