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龍圖騰網獲悉寧波東方理工大學(暫名)申請的專利一種基于深度學習的非接觸式超分辨導波陣列成像方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120374394B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-22發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510880515.3，技術領域涉及：G06T3/4053；該發明授權一種基于深度學習的非接觸式超分辨導波陣列成像方法是由楊永超;宋浩民;李庭堅設計研發完成，并于2025-06-27向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于深度學習的非接觸式超分辨導波陣列成像方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種基于深度學習的非接觸式超分辨導波陣列成像方法，涉及結構無損檢測與成像技術領域，具體步驟包括；步驟一、建立非接觸式導波陣列進行數據采集，對獲取的導波陣列響應數據應用延遲和求和波束形成算法，生成初始導波成像圖像，步驟二、從初始導波成像圖像提取缺陷的空間分布概率，構建去噪DAS圖像，從去噪DAS圖像中提取包含缺陷的局部子圖區域，步驟三、通過多尺度殘差網絡生成高分辨率缺陷圖像，并采用定量化指標動態優化成像結果，本發明通過結合多尺度深度神經網絡結構，突破傳統成像方法的衍射極限，能夠對結構中的亞波長缺陷進行清晰可視化。

本發明授權一種基于深度學習的非接觸式超分辨導波陣列成像方法在權利要求書中公布了：1.一種基于深度學習的非接觸式超分辨導波陣列成像方法，其特征在于，包括： 步驟一、建立非接觸式導波陣列進行數據采集，對獲取的導波陣列響應數據應用延遲和求和波束形成算法，生成初始導波成像圖像； 利用激光多普勒測振儀結合雙軸掃描振鏡，對目標結構表面進行二維掃描采樣，形成高密度陣列數據，通過安裝在結構背面的壓電貼片激勵導波，其中選擇激光多普勒測振儀的激光波長為λ，位移靈敏度達h，檢測亞微米級振動響應，雙軸掃描振鏡負責控制激光測點的二維柵格掃描，定位精度為±P，激勵信號為N周期漢寧窗調制的正弦波，掃描參數的測點間距設為C，采樣區域為A×B個測點，每測點駐留時間設為T1，通過信號平均將信噪比提升至HdB以上，同時總掃描時間控制在T2秒，設定為導波信號最高頻率的k倍以上，采集得到完整導波陣列響應數據； 步驟二、從初始導波成像圖像提取缺陷的空間分布概率，構建去噪DAS圖像，從去噪DAS圖像中提取包含缺陷的局部子圖區域； 基于輕量級卷積神經網絡架構設計全局缺陷檢測網絡，將初始導波成像圖像輸入到全局缺陷檢測網絡，得到全局缺陷檢測網絡輸出的具有相同尺寸的缺陷定位圖，將初始導波成像圖像記為DAS圖像，對DAS圖像進行歸一化處理，通過逐像素點乘操作，將兩幅圖像對應位置的像素值相乘，得到去噪后的DAS圖像； 步驟三、通過多尺度殘差網絡生成高分辨率缺陷圖像，并采用定量化指標動態優化成像結果。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人寧波東方理工大學(暫名)，其通訊地址為：315200 浙江省寧波市鎮海區莊市街道同心路568號開元新青年廣場2號樓；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。