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龍圖騰網(wǎng)獲悉濟(jì)南蘭星電子有限公司申請的專利一種二極管芯片高溫耐電測試設(shè)備及使用方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN120282391B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-22發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202510762833.X，技術(shù)領(lǐng)域涉及：H05K5/02；該發(fā)明授權(quán)一種二極管芯片高溫耐電測試設(shè)備及使用方法是由高飛;李浩;魏興政;王鵬設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2025-06-09向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種二極管芯片高溫耐電測試設(shè)備及使用方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明涉及芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種二極管芯片高溫耐電測試設(shè)備及使用方法，包括內(nèi)設(shè)芯片安裝架的測試柜，且測試柜的正面轉(zhuǎn)動設(shè)置有柜門，所述測試柜的內(nèi)頂部固定設(shè)置有頂板，且頂板上滑動連接有帶槽的滑架，所述柜門的內(nèi)側(cè)設(shè)置有帶勾的拉桿。該種二極管芯片高溫耐電測試設(shè)備及使用方法，通過機(jī)械聯(lián)動裝置自動控制隔離罩的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動，在柜門開閉時形成動態(tài)熱屏障，有效分隔高溫測試區(qū)與操作區(qū)，保持各自溫度穩(wěn)定性，隔離罩的運(yùn)動與柜門開閉同步聯(lián)動，確保操作過程中高溫區(qū)域始終被物理隔離，降低人員接觸高溫表面的風(fēng)險(xiǎn)，系統(tǒng)通過隔離罩的精準(zhǔn)定位，最小化熱量散失區(qū)域，減少重復(fù)測試時的熱能補(bǔ)充需求，提升整體能效。

本發(fā)明授權(quán)一種二極管芯片高溫耐電測試設(shè)備及使用方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種二極管芯片高溫耐電測試設(shè)備，其特征在于，包括： 測試柜（1），其內(nèi)部設(shè)有芯片安裝架（2）且正面轉(zhuǎn)動連接柜門（3）； 頂板（4），固定設(shè)置于測試柜（1）內(nèi)頂部，其表面滑動連接帶槽滑架（5）； 拉桿（6），設(shè)置于柜門（3）內(nèi)側(cè)，其端部設(shè)有與滑架（5）滑動配合的鉤體； 聯(lián)動機(jī)構(gòu)，包含固定在滑架（5）上的齒條（7）、轉(zhuǎn)動連接頂板（4）的齒輪（8），以及通過輪軸與齒輪（8）連接的半圓筒隔離罩（9）； 密封邊（10），成對設(shè)置在測試柜（1）內(nèi)壁兩側(cè)并與隔離罩（9）形成動態(tài)密封； 所述柜門（3）內(nèi)側(cè)設(shè)有L型鎖定架（11），測試柜（1）內(nèi)側(cè)壁開設(shè)豎向滑槽（12）及橫向延伸的卡槽（13）； 鎖定銷（14）可滑動地設(shè)置在滑槽（12）與卡槽（13）內(nèi)； 把手（15）通過鏡像設(shè)置的滑槽（12）和卡槽（13）滑動連接于測試柜（1）外壁； 所述鎖定銷（14）與把手（15）通過磁塊（16）形成磁力聯(lián)動； 所述柜門（3）內(nèi)部開設(shè)貫通的內(nèi)槽（17），其內(nèi)滑動連接帶斜口（18）的內(nèi)板（19）； 所述內(nèi)板（19）內(nèi)端連接插銷（20），外端設(shè)有操作柄； 所述柜門（3）頂部開設(shè)與內(nèi)槽（17）連通的通口（21），拉桿（6）插接端設(shè)有與插銷（20）配合的卡口（22）。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人濟(jì)南蘭星電子有限公司，其通訊地址為：250200 山東省濟(jì)南市章丘區(qū)明水街道赭山工業(yè)園；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。