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龍圖騰網獲悉中國科學院地質與地球物理研究所申請的專利基于非相干散射雷達提取電離層F區碰撞頻率的方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120233359B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-22發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510728395.5，技術領域涉及：G01S13/88；該發明授權基于非相干散射雷達提取電離層F區碰撞頻率的方法是由張寧;樂新安;寧百齊;丁鋒設計研發完成，并于2025-06-03向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于非相干散射雷達提取電離層F區碰撞頻率的方法在說明書摘要公布了：本申請屬于信號與信息處理領域，具體涉及了一種基于非相干散射雷達提取電離層F區碰撞頻率的方法，旨在解決無法獲得電離層F區碰撞頻率24小時變化的問題。方法包括：基于非相干散射雷達獲取電離層F區的電離層參量；根據多個視線方向下的離子視線速度，獲取離子矢量速度；在電離層中離子的擴散速度為0的情況下，基于電子密度、電子溫度、離子溫度和離子質量，確定擴散速度零值高度；基于擴散速度零值高度的經向風、離子矢量速度和磁傾角，確定目標高度的目標擴散速度；基于目標擴散速度，確定電離層F區的碰撞頻率。本申請實現了電離層F區的碰撞頻率的24小時連續測量。

本發明授權基于非相干散射雷達提取電離層F區碰撞頻率的方法在權利要求書中公布了：1.一種基于非相干散射雷達提取電離層F區碰撞頻率的方法，其特征在于，包括： 步驟S10，基于非相干散射雷達獲取電離層F區的電離層參量，其中，所述電離層參量包括電子密度、電子溫度、離子溫度以及離子視線速度； 步驟S20，根據多個視線方向下的所述離子視線速度，獲取離子矢量速度； 步驟S30，在電離層中離子的擴散速度為0的情況下，基于所述電子密度、電子溫度、離子溫度和離子質量，確定擴散速度零值高度； 步驟S40，基于所述擴散速度零值高度的經向風、所述離子矢量速度和磁傾角，確定目標高度的目標擴散速度，其中，所述目標高度是所述擴散速度零值高度以上的高度； 步驟S50，基于所述目標擴散速度，確定所述電離層F區的碰撞頻率； 其中，所述確定目標高度的目標擴散速度，包括： ； 其中，表示目標擴散速度，表示沿磁力線方向速度，表示所述擴散速度零值高度的經向風，cosI表示磁傾角的余弦值，其中，所述沿磁力線方向速度是所述離子矢量速度中的一個； 所述擴散速度零值高度的經向風，包括： ； 其中，表示擴散速度零值高度處的離子沿磁力線方向速度。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院地質與地球物理研究所，其通訊地址為：100029 北京市朝陽區北土城西路19號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。