中國科學院長春光學精密機械與物理研究所梁敏華獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國科學院長春光學精密機械與物理研究所申請的專利用于汽車飾品的缺陷檢測與處理方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120374603B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-26發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510842433.X,技術領域涉及:G06T7/00;該發明授權用于汽車飾品的缺陷檢測與處理方法是由梁敏華;董健;王曉明;陳翱設計研發完成,并于2025-06-23向國家知識產權局提交的專利申請。
本用于汽車飾品的缺陷檢測與處理方法在說明書摘要公布了:本發明屬于視覺定位技術領域,尤其涉及一種用于汽車飾品的缺陷檢測與處理方法。包括:S1:獲取待檢測對象的不同區域的待檢測圖像,并對不同區域的待檢測圖像依次進行預處理,獲得帶有缺陷信息的各待檢測圖像;S2:基于帶有缺陷信息的各待檢測圖像構建信息矩陣;S3:獲取標定變換矩陣,利用標定變換矩陣對信息矩陣進行處理,獲得結果矩陣;S4:獲取結果矩陣中的結果向量,并基于各結果向量依次計算機械夾爪末端與對應缺陷表面的距離F,且基于距離和機械臂的TCP計算當前機械夾爪中心的偏移量f;S5:基于各缺陷的結果向量和對應各結果向量計算的偏移量f,定位各缺陷的3D坐標,實現缺陷處理。本發明提高了生產效率、降低了成本。
本發明授權用于汽車飾品的缺陷檢測與處理方法在權利要求書中公布了:1.一種用于汽車飾品的缺陷檢測與處理方法,利用機械臂實現,其特征在于:具體包括如下步驟: S1:將高精度相機搭載至機械臂的機械夾爪上,獲取待檢測對象的不同區域的待檢測圖像,并對不同區域的待檢測圖像依次進行預處理,獲得帶有缺陷信息的各待檢測圖像; S2:基于帶有缺陷信息的各待檢測圖像構建信息矩陣; 在步驟S2中,信息矩陣為(i+2)×j矩陣,其中,前i行元素代表缺陷的i維像素坐標,第i+1行元素代表缺陷類型,第i+2行元素代表缺陷所在待檢測圖片的序列號,j列中每一列元素代表一個缺陷對應的缺陷信息,缺陷信息包括缺陷像素點坐標、缺陷類型、缺陷所在待檢測圖片的序列號; S3:獲取標定變換矩陣,利用標定變換矩陣對信息矩陣進行處理,獲得結果矩陣; 步驟S3具體包括如下步驟: S31:調整機械臂的機械夾爪上搭載的高精度相機的姿態,使所述高精度相機對待檢測對象的不同區域進行拍攝時均處于垂直拍攝的位置; S32:基于機械臂基座建立世界坐標系,并基于世界坐標系建立相機坐標系,所述世界坐標系與所述相機坐標系的轉換關系式為: ; 其中,為缺陷在當前高精度相機位姿下的相機坐標系的三維坐標,(U,V,W)為缺陷在世界坐標系的三維坐標,R為旋轉矩陣,T為平移矩陣; S33:基于所述相機坐標系建立像素坐標系,所述相機坐標系與所述像素坐標系的轉換關系式為: ; 其中,Z為尺度因子,(X,Y)為像素坐標系的二維坐標,(X0,Y0)為待檢測圖片的中心點像素坐標,dX為在像素坐標系的X方向上的一個像素在高精度相機的相機感光板的長度,dY為在像素坐標系的Y方向上的一個像素在相機感光板的長度,θ為相機感光板的橫邊和縱邊的角度,f為像距; S34:重復步驟S32~步驟S33,獲得高精度相機在不同姿態下,所述世界坐標系與所述相機坐標系的轉換關系式以及所述相機坐標系與所述像素坐標系的轉換關系式; S35:通過下式計算各待檢測圖片中的缺陷在世界坐標系下的坐標,獲得結果矩陣C: C=B×A; ; 其中,B為變換矩陣,A為信息矩陣; S4:獲取結果矩陣中的結果向量,并基于各結果向量依次計算機械夾爪末端與對應缺陷表面的距離F,且基于所述距離和機械臂的TCP計算當前機械夾爪中心的偏移量f; S5:基于各缺陷的結果向量和對應各結果向量計算的偏移量f,定位各缺陷的3D坐標,實現缺陷處理。
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