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龍圖騰網(wǎng)獲悉株式會社東芝;東芝電子元件及存儲裝置株式會社申請的專利劣化檢查裝置以及劣化檢查方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN115494363B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-26發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202210208122.4，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R31/26；該發(fā)明授權(quán)劣化檢查裝置以及劣化檢查方法是由間島秀明設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2022-03-04向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本劣化檢查裝置以及劣化檢查方法在說明書摘要公布了：本實(shí)施方式涉及劣化檢查裝置以及劣化檢查方法。根據(jù)一個實(shí)施方式，劣化檢查裝置具備：電感器，串聯(lián)連接于作為被檢查對象的MOS晶體管的主電流路，在上述MOS晶體管為導(dǎo)通狀態(tài)時與上述MOS晶體管一起構(gòu)成閉環(huán)；控制電路，對上述MOS晶體管的導(dǎo)通截止進(jìn)行控制；電流傳感器，檢測上述電感器釋放的電流；以及計(jì)算電路，根據(jù)上述MOS晶體管為導(dǎo)通狀態(tài)時上述電感器釋放的電流的衰減特性計(jì)算上述MOS晶體管的導(dǎo)通電阻，根據(jù)上述MOS晶體管為截止?fàn)顟B(tài)時上述電感器釋放的電流的衰減特性計(jì)算上述MOS晶體管的閾值電壓。

本發(fā)明授權(quán)劣化檢查裝置以及劣化檢查方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種劣化檢查裝置，具備： 電感器，串聯(lián)連接于作為被檢查對象的MOS晶體管的主電流路，在上述MOS晶體管為導(dǎo)通狀態(tài)時與上述MOS晶體管一起構(gòu)成閉環(huán)； 控制電路，對上述MOS晶體管的導(dǎo)通截止進(jìn)行控制； 電流傳感器，檢測上述電感器釋放的電流； 計(jì)算電路，根據(jù)上述MOS晶體管為導(dǎo)通狀態(tài)時上述電感器釋放的電流的衰減特性的斜率計(jì)算上述MOS晶體管的導(dǎo)通電阻，根據(jù)上述MOS晶體管為截止?fàn)顟B(tài)時上述電感器釋放的電流的衰減特性的斜率計(jì)算上述MOS晶體管的閾值電壓；以及 判定電路，將預(yù)先設(shè)定的導(dǎo)通電阻以及閾值電壓的閾值與上述計(jì)算電路計(jì)算出的上述MOS晶體管的導(dǎo)通電阻以及閾值電壓進(jìn)行比較而判定上述MOS晶體管的劣化狀態(tài)。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人株式會社東芝;東芝電子元件及存儲裝置株式會社，其通訊地址為：日本東京都；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。