合肥康芯威存儲技術有限公司許建強獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉合肥康芯威存儲技術有限公司申請的專利一種閃存寬溫的篩選方法及存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120452520B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-02發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510923324.0，技術領域涉及：G11C29/56；該發明授權一種閃存寬溫的篩選方法及存儲介質是由許建強;陳文濤設計研發完成，并于2025-07-04向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種閃存寬溫的篩選方法及存儲介質在說明書摘要公布了：一種閃存寬溫的篩選方法及存儲介質，包括：對原廠顆粒進行寬溫篩選，將原廠顆粒分為多個讀取錯誤位閾值的測試樣本；根據多個讀取錯誤位閾值的測試樣本得到測試樣本的初始良率；對測試樣本進行全盤磨損處理，當全盤磨損的次數達到第一指定磨損次數時，對測試樣本進行第一寬溫驗證，得到測試樣本的第一良率；當全盤磨損的次數達到第二指定磨損次數時，對測試樣本進行第二寬溫驗證，得到測試樣本的第二良率；當全盤磨損的次數達到第三指定磨損次數時，對測試樣本進行第三寬溫驗證，得到測試樣本的第三良率；根據初始良率、第一良率、第二良率與第三良率，選擇指定讀取錯誤位閾值作為寬溫篩選的指標，根據指標對后續原廠顆粒進行寬溫篩選。
本發明授權一種閃存寬溫的篩選方法及存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種閃存寬溫的篩選方法，其特征在于，所述方法包括： 提供原廠顆粒，對所述原廠顆粒進行寬溫篩選，以獲取所述原廠顆粒的讀取錯誤位，根據所述讀取錯誤位，將所述原廠顆粒分為多個讀取錯誤位閾值的測試樣本； 根據多個讀取錯誤位閾值的測試樣本得到所述測試樣本的初始良率； 對所述測試樣本進行全盤磨損處理，并實時計數全盤磨損的次數； 當全盤磨損的次數達到第一指定磨損次數時，對所述測試樣本進行第一寬溫驗證，得到所述測試樣本的第一良率； 當全盤磨損的次數達到第二指定磨損次數時，對所述測試樣本進行第二寬溫驗證，得到所述測試樣本的第二良率； 當全盤磨損的次數達到第三指定磨損次數時，對所述測試樣本進行第三寬溫驗證，得到所述測試樣本的第三良率； 根據所述初始良率、所述第一良率、所述第二良率與所述第三良率，選擇指定讀取錯誤位閾值作為寬溫篩選的指標，根據所述指標對后續原廠顆粒進行寬溫篩選。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人合肥康芯威存儲技術有限公司，其通訊地址為：230051 安徽省合肥市經濟技術開發區宿松路3963號智能裝備科技園D3棟5層；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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