維也納自然資源與生命科學大學彼得·多米尼庫斯·瓊斯·范·奧斯特魯姆獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉維也納自然資源與生命科學大學申請的專利用于確定介質中的顆粒的性質的方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115698674B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202180040810.8,技術領域涉及:G01N15/0205;該發明授權用于確定介質中的顆粒的性質的方法是由彼得·多米尼庫斯·瓊斯·范·奧斯特魯姆;埃里克·奧洛夫·雷蒙設計研發完成,并于2021-04-29向國家知識產權局提交的專利申請。
本用于確定介質中的顆粒的性質的方法在說明書摘要公布了:一種用于確定介質M中的至少一個顆粒P的性質的方法,包括:發射相干光束6以照射所述介質M的樣本5;記錄所述光束6的被所述至少一個顆粒P散射的第一部分和所述光束6的未被顆粒P散射的第二部分的干涉圖像10;針對所述樣本5內的多個位置13,根據所述干涉圖像10計算S1所述第一部分的電場E1;生成S2表示16,其包括對于每個位置13的相位值ξ和強度值I,所述相位值根據所計算的電場E1和根據所述第二部分的所估計的電場E2來確定,所述強度值根據所述第一部分的所述強度I1和根據所述相位值ξ來確定;以及由此確定S3所述性質。
本發明授權用于確定介質中的顆粒的性質的方法在權利要求書中公布了:1.一種用于確定介質M中的至少一個顆粒P的性質的方法,其包括: 提供包含所述至少一個顆粒P的介質M的樣本5; 利用光源2發射相干光束6以照射所述樣本5,其中,所述光束6的第一部分被所述至少一個顆粒P散射以產生散射的光束7; 利用相機3記錄所述散射的光束7和所述光束6的未被所述至少一個顆粒P散射的第二部分的干涉圖像10; 利用處理器11對于在所述樣本5內三維分布的多個位置13中的每一個,根據所述干涉圖像10計算S1在那個位置13處的所述光束6的所述第一部分的電場E1; 利用所述處理器11生成S2所述樣本5的表示16,所述表示16覆蓋所述多個位置13并且包括對于所述多個位置13中的每個的相位值ξ和強度值I,所述相位值ξ根據在那個位置13處的所計算的電場E1和根據在那個位置13處的所述光束6的所述第二部分的所估計的電場E2確定,并且,所述強度值I根據在那個位置13處的所確定的相位值ξ和根據在那個位置13處的所述光束6的所述第一部分的強度I1確定;以及 利用所述處理器11使用所述表示16來確定S3所述性質。
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