香港科技大學(xué)穆罕默德·奧斯曼·布塔獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉香港科技大學(xué)申請的專利基于半監(jiān)督學(xué)習(xí)的缺陷檢測方法和裝置獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN113643224B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-05發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202010338415.5,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G06T7/00;該發(fā)明授權(quán)基于半監(jiān)督學(xué)習(xí)的缺陷檢測方法和裝置是由穆罕默德·奧斯曼·布塔;焦健浩;云鵬;王遠(yuǎn);孫學(xué)斌;劉明設(shè)計研發(fā)完成,并于2020-04-26向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本基于半監(jiān)督學(xué)習(xí)的缺陷檢測方法和裝置在說明書摘要公布了:本申請?zhí)峁┝艘环N基于半監(jiān)督學(xué)習(xí)的缺陷檢測方法和裝置。該基于半監(jiān)督學(xué)習(xí)的缺陷檢測方法包括:獲得檢測對象的圖像,其中部分圖像的缺陷被標(biāo)記;使用第一分類器將所述圖像識別為缺陷和背景,其中,所述第一分類器利用所述部分圖像的數(shù)據(jù)基于半監(jiān)督學(xué)習(xí)方法訓(xùn)練得到;以及使用第二分類器將所述缺陷分類為多種類型的缺陷,其中,所述第二分類器利用所述部分圖像的數(shù)據(jù)基于半監(jiān)督學(xué)習(xí)方法訓(xùn)練得到。
本發(fā)明授權(quán)基于半監(jiān)督學(xué)習(xí)的缺陷檢測方法和裝置在權(quán)利要求書中公布了:1.一種基于半監(jiān)督學(xué)習(xí)的缺陷檢測方法,包括: 獲得檢測對象的圖像,其中部分圖像的缺陷被標(biāo)記; 使用第一分類器將所述圖像識別為缺陷和背景,其中,所述第一分類器利用所述部分圖像的數(shù)據(jù)基于半監(jiān)督學(xué)習(xí)方法訓(xùn)練得到,所述第一分類器是分段K均值分類器;以及 使用第二分類器將所述缺陷分類為多種類型的缺陷,其中,所述第二分類器利用所述部分圖像的數(shù)據(jù)基于半監(jiān)督學(xué)習(xí)方法訓(xùn)練得到,所述第二分類器是隨機(jī)森林分類器, 其中,利用所述部分圖像的數(shù)據(jù)基于半監(jiān)督學(xué)習(xí)方法訓(xùn)練得到所述第一分類器包括: 迭代使用k均值方法,對于每個k均值迭代,基于被標(biāo)記的數(shù)據(jù),保留包含被標(biāo)記的數(shù)據(jù)比例最高的n個聚類,將該n個聚類投射到下一個k均值迭代,并丟棄其余聚類,直到被丟棄的聚類的數(shù)量小于預(yù)設(shè)閾值為止。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人香港科技大學(xué),其通訊地址為:中國香港九龍清水灣;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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