華南理工大學李睿獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉華南理工大學申請的專利基于圖像分析同步獲取材料力學實驗應力應變數(shù)據(jù)的方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN115577495B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-08發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202211077715.8,技術領域涉及:G06F30/20;該發(fā)明授權(quán)基于圖像分析同步獲取材料力學實驗應力應變數(shù)據(jù)的方法是由李睿;蔣震宇;張舸;湯立群;劉逸平;劉澤佳;周立成;董守斌設計研發(fā)完成,并于2022-09-05向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本基于圖像分析同步獲取材料力學實驗應力應變數(shù)據(jù)的方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明公開了一種基于圖像分析同步獲取材料力學實驗應力應變數(shù)據(jù)的方法,包括:1采集同時包含荷載或名義應力數(shù)值和試樣表面的圖像序列;2識別圖片中的數(shù)值,若為荷載數(shù)值,根據(jù)試樣尺寸換算為應力數(shù)值;在需要計算應變的圖像區(qū)域設定考察點,經(jīng)過圖像匹配得到考察點在序列內(nèi)其它圖片上的對應點;3若圖像序列由單臺設備采集,則根據(jù)考察點及其不同時刻對應點的坐標計算其二維位移;若由多臺設備采集,則需重構(gòu)考察點的三維坐標,由考察點不同時刻的三維坐標計算其三維位移;4由位移結(jié)果求得與名義應力時間同步的應變結(jié)果。本發(fā)明無需荷載測量設備與圖像采集設備進行通訊,即可完成試樣表面應變場和名義應力測量結(jié)果的同步獲取。
本發(fā)明授權(quán)基于圖像分析同步獲取材料力學實驗應力應變數(shù)據(jù)的方法在權(quán)利要求書中公布了:1.基于圖像分析同步獲取材料力學實驗應力應變數(shù)據(jù)的方法,其特征在于,包括以下步驟: 1實驗期間,采集同時包含荷載或名義應力數(shù)值和試樣表面的圖像序列; 2識別圖像序列中每張圖像的荷載或名義應力數(shù)值,若識別得到的數(shù)值為荷載,則需要根據(jù)預先測定的試樣幾何尺寸換算為名義應力數(shù)值;同時在某一張圖像中設定考察點,通過圖像匹配得到考察點在序列內(nèi)其它圖像上的對應點;包括以下步驟: 2.1在a時刻圖像中劃定需要計算應變的圖像區(qū)域,在該區(qū)域內(nèi)設定考察點,考察點為像素點,表示為: 式中,指a時刻圖像中的第i個考察點,和分別是在圖像坐標下X軸和Y軸的像素坐標,N為考察點總數(shù); 2.2若使用單臺圖像采集設備,由圖像匹配得到在j時刻圖像中的對應點j=1,2,3,...,M,式中M為圖像總數(shù);若使用多臺圖像采集設備,執(zhí)行圖像匹配分別得到在第k臺設備j時刻采集的圖像中的對應點以及在同臺設備j時刻采集圖像中的對應點式中,k=2,3,4,...,S,S為圖像采集設備總數(shù); 3若圖像序列由一臺設備采集,則直接根據(jù)步驟2中的考察點及其對應點坐標計算得到該考察點的位移;若圖像序列由多臺設備采集,需先根據(jù)步驟2中的考察點坐標和該點在其它同時刻采集圖像中的對應點坐標,重構(gòu)該考察點的三維坐標,再根據(jù)考察點不同時刻的三維坐標求得位移; 第i個考察點在b時刻到c時刻期間發(fā)生的位移由在兩時刻的對應點坐標相減得到,若圖像序列由單臺設備采集得到,位移為考察點在圖像坐標系下的二維像素坐標,表示為: 式中,b=1,2,3,...,M,c=1,2,3,...,M,和分別為在b時刻和c時刻的對應點; 若圖像序列由多臺設備采集得到,需根據(jù)圖像采集設備的標定參數(shù)以及和中任意兩個點的像素坐標重構(gòu)得到在世界坐標系下j時刻的三維坐標其中世界坐標系是以圖像采集設備的鏡頭光心為原點,光軸為Z軸,感光元件水平和豎直排布方向為X軸和Y的三維坐標系,由此能夠計算考察點從b時刻到c時刻期間發(fā)生的三維位移,表示為: 式中,和分別為在b時刻和c時刻通過重構(gòu)得到的三維坐標; 4由步驟3計算得到的位移進一步求得與名義應力數(shù)值時間同步的應變數(shù)值。
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