福建省晉華集成電路有限公司孔果果獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉福建省晉華集成電路有限公司申請的專利臺階結(jié)構(gòu)的制備方法、NAND存儲器的制備方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN115148741B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-08發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202210793011.4,技術(shù)領(lǐng)域涉及:H10B41/35;該發(fā)明授權(quán)臺階結(jié)構(gòu)的制備方法、NAND存儲器的制備方法是由孔果果;莊夢琦;童宇誠;周運(yùn)帆設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2022-07-05向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本臺階結(jié)構(gòu)的制備方法、NAND存儲器的制備方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明提供了一種臺階結(jié)構(gòu)的制備方法、NAND存儲器的制備方法。在臺階結(jié)構(gòu)的制備方法中,通過修整工藝逐次擴(kuò)大第一開口的開口尺寸,并在每一次擴(kuò)大第一開口后執(zhí)行刻蝕工藝,以逐級界定出臺階結(jié)構(gòu)的各級臺階,從而在N?1次修整工藝和刻蝕工藝后,即可在第一開口內(nèi)同時形成兩組臺階結(jié)構(gòu),簡化了臺階結(jié)構(gòu)的制備工藝。并且,對第一開口的每次擴(kuò)展均是從相對兩側(cè)進(jìn)行雙向擴(kuò)展,使得每一次開口的擴(kuò)展量雙倍增大,有利于增大后續(xù)所執(zhí)行的刻蝕工藝的工藝窗口,降低刻蝕難度。
本發(fā)明授權(quán)臺階結(jié)構(gòu)的制備方法、NAND存儲器的制備方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種臺階結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,包括: 形成由下至上堆疊設(shè)置的至少一個堆疊結(jié)構(gòu)在一襯底上,每一所述堆疊結(jié)構(gòu)具有由下至上交替設(shè)置的N個第一材料層和N個第二材料層,多個兩兩相鄰的第一材料層和第二材料層組合構(gòu)成了N個層級; 形成刻蝕阻擋層在所述堆疊結(jié)構(gòu)上,所述刻蝕阻擋層中形成有第一開口,所述第一開口暴露出待刻蝕的堆疊結(jié)構(gòu)中排布在最頂層的第一個層級的表面; 執(zhí)行刻蝕工藝,以通過所述第一開口刻蝕所述第一個層級,并刻蝕停止在第二個層級的表面上;以及, 執(zhí)行N-1次修整工藝,以使所述第一開口的開口尺寸往相對的兩側(cè)逐次擴(kuò)大,并在每一次擴(kuò)大第一開口之后執(zhí)行刻蝕工藝,以通過擴(kuò)大的第一開口刻蝕當(dāng)前暴露出的層級至下一個層級的表面上; 其中,所述襯底上形成有位于下方的第一堆疊結(jié)構(gòu)和位于上方的第二堆疊結(jié)構(gòu);對所述第一堆疊結(jié)構(gòu)和所述第二堆疊結(jié)構(gòu)進(jìn)行刻蝕以在同一臺階區(qū)內(nèi)形成臺階結(jié)構(gòu)的方法還包括:在形成所述刻蝕阻擋層之前,刻蝕所述第二堆疊結(jié)構(gòu)以形成第二開口,所述第二開口位于所述臺階區(qū)的中心線的一側(cè),并暴露出所述第一堆疊結(jié)構(gòu);以及,所述刻蝕阻擋層中的第一開口形成在臺階區(qū)的中心線位置,以同時暴露出第一堆疊結(jié)構(gòu)中位于第二開口的部分和第二堆疊結(jié)構(gòu)中靠近第二開口的端部。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人福建省晉華集成電路有限公司,其通訊地址為:362200 福建省泉州市晉江市集成電路科學(xué)園聯(lián)華大道88號;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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