中國科學院物理研究所李子安獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國科學院物理研究所申請的專利測量納米磁結構相變過程的激活能和特征弛豫時間的方法和應用獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114325513B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-08發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202011062384.1，技術領域涉及：G01R33/12；該發明授權測量納米磁結構相變過程的激活能和特征弛豫時間的方法和應用是由李子安;柴可;李俊;田煥芳;楊槐馨;李建奇設計研發完成，并于2020-09-30向國家知識產權局提交的專利申請。
本測量納米磁結構相變過程的激活能和特征弛豫時間的方法和應用在說明書摘要公布了：本發明提供了一種測量納米磁結構相變過程的激活能和特征弛豫時間的方法和應用。本發明利用透射電子顯微鏡洛倫茲模式來觀測薄樣品的磁相變動力學過程，通過制備納米級厚度和幾何尺寸的薄樣品，利用激光輻照熱退磁來消去磁相變過程的熱滯留效應，準確獲得納米尺度磁結構相變的特征弛豫時間和激活能等動力學參數，為表征磁材料的磁動力學過程和本征磁特性提供新穎且切實可行的方法。
本發明授權測量納米磁結構相變過程的激活能和特征弛豫時間的方法和應用在權利要求書中公布了：1.一種測量納米磁結構相變過程的激活能和特征弛豫時間的方法，其特征在于，該方法包括以下步驟： 1從塊材樣品中制備適合透射電鏡觀測的納米厚度試樣； 2將步驟1制備的試樣固定在可變溫的樣品桿上，通過調節加熱電流設定薄試樣的溫度T； 3啟用洛倫茲工作模式的電鏡物鏡，通過對其施加電流強度以產生所需的外磁場來實現對試樣施加不同強度的外磁場； 4記錄試樣中磁結構相變完成的時間點tf； 5關閉電鏡物鏡電流，加熱試樣至高于試樣的居里溫度，使試樣發生熱退磁，使得磁結構恢復到初始狀態，去除磁結構相變過程的磁滯影響； 6重復步驟2～5，以獲得試樣在不同溫度下的磁結構相變所需的弛豫時間； 7將不同溫度T下測取的磁結構轉變時間tf，根據阿倫尼烏斯公式進行擬合，獲得樣品中磁結構相變熱動力學過程的激活能和特征弛豫時間。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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