中國科學技術大學俞漢青獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國科學技術大學申請的專利一種利用三維熒光光譜瑞利散射信號估算紫外-可見吸收光譜的方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN116223414B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202310413636.8，技術領域涉及：G01N21/31；該發明授權一種利用三維熒光光譜瑞利散射信號估算紫外-可見吸收光譜的方法是由俞漢青;陳潔潔;錢晨;杜蒙設計研發完成，并于2023-04-18向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種利用三維熒光光譜瑞利散射信號估算紫外-可見吸收光譜的方法在說明書摘要公布了：本發明提供了一種利用三維熒光光譜瑞利散射信號估算紫外?可見吸收光譜的方法，是先分別采集空白對照和待測樣本的三維熒光光譜，從中截取獲得二者的瑞利散射譜圖，再利用所采集散射譜估算待測樣本的紫外?可見吸收光譜。本發明有效利用了常被忽視的三維熒光光譜中的瑞利散射信息，估算出的紫外?可見吸收光譜可用于三維熒光光譜的內濾效應校正或其他譜學分析，為三維熒光光譜儀的結構精簡和成本減少提供了有效途徑。
本發明授權一種利用三維熒光光譜瑞利散射信號估算紫外-可見吸收光譜的方法在權利要求書中公布了：1.一種利用三維熒光光譜瑞利散射信號估算紫外-可見吸收光譜的方法，其特征在于，包括如下步驟： 1準備待測樣本溶液和與待測樣本溶液具有相同散射性質的空白對照液； 2分別采集待測樣本溶液和空白對照液在紫外至可見波長范圍內的三維熒光光譜，并分別提取其瑞利散射光譜； 3依據待測樣本溶液和空白對照液的瑞利散射光譜，按照式1計算待測樣本在每個波長處的吸收值，獲得待測樣本的原始紫外-可見吸收光譜： 式中：λ為波長，Aλ為待測樣本在波長λ處的吸收值，Sblankλ表示空白對照液在波長λ處的瑞利散射值，Ssampleλ表示待測樣本溶液在波長λ處的瑞利散射值； 4對計算所得原始紫外-可見吸收光譜進行平滑處理和或基線矯正，得到待測樣本最終的紫外-可見吸收光譜。
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