西安電子科技大學(xué)張帥獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉西安電子科技大學(xué)申請(qǐng)的專利基于低剖面的Ka波段超表面單元及其加載的波束掃描天線獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號(hào)為:CN116031658B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-12發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為:202310202469.2,技術(shù)領(lǐng)域涉及:H01Q15/00;該發(fā)明授權(quán)基于低剖面的Ka波段超表面單元及其加載的波束掃描天線是由張帥;閆登輝;林志成;張德訓(xùn);陳俁設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2023-03-06向國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。
本基于低剖面的Ka波段超表面單元及其加載的波束掃描天線在說明書摘要公布了:一種基于低剖面的Ka波段超表面單元,包括上介質(zhì)基板和下介質(zhì)基板,上介質(zhì)基板的上表面、下介質(zhì)基板的下表面以及上介質(zhì)基板的下表面或下介質(zhì)基板的上表面,均印制有相同圖案且投影相對(duì)的金屬層;金屬層包括K條第一弧形金屬線和K條金屬線;貫通上介質(zhì)基板和下介質(zhì)基板設(shè)置有K個(gè)第一金屬化過孔和K個(gè)第二金屬化過孔,第一金屬化過孔連接各金屬層上投影相對(duì)的第一弧形金屬線;第二金屬化過孔連接各金屬層上投影相對(duì)的金屬線。本發(fā)明還提供了相應(yīng)的波束天線,通過對(duì)不同位置使用不同的超表面單元進(jìn)行相位補(bǔ)償,實(shí)現(xiàn)波束偏轉(zhuǎn),通過改變兩個(gè)超表面之間的相對(duì)旋轉(zhuǎn)角度實(shí)現(xiàn)主波束在俯仰面上的掃描。
本發(fā)明授權(quán)基于低剖面的Ka波段超表面單元及其加載的波束掃描天線在權(quán)利要求書中公布了:1.一種基于低剖面的Ka波段超表面單元,其特征在于,包括上介質(zhì)基板2和下介質(zhì)基板3,所述上介質(zhì)基板2的上表面、所述下介質(zhì)基板3的下表面以及所述上介質(zhì)基板2的下表面或所述下介質(zhì)基板3的上表面,均印制有相同圖案且投影相對(duì)的金屬層1; 所述金屬層1包括K條第一弧形金屬線103、K條第二弧形金屬線104和K條金屬線105;所述K條第一弧形金屬線103位于第一圓周,且中心對(duì)稱分布;每條金屬線105的一端在所述中心處連接,每條金屬線105的另一端與一條第一弧形金屬線103的中點(diǎn)相對(duì)且具有間距;其中K>1;所述K條第二弧形金屬線104位于第二圓周,且中心對(duì)稱分布;所述第一圓周與所述第二圓周共圓心,且所述第一圓周的半徑大于所述第二圓周的半徑;所述每條金屬線105的另一端與一條第二弧形金屬線104的中點(diǎn)連接; 貫通所述上介質(zhì)基板2和下介質(zhì)基板3設(shè)置有K個(gè)第一金屬化過孔101和K個(gè)第二金屬化過孔102,所述第一金屬化過孔101連接各金屬層1上投影相對(duì)的第一弧形金屬線103;所述第二金屬化過孔102連接各金屬層1上投影相對(duì)的金屬線105; 通過改變第一弧形金屬線103、第二弧形金屬線104和金屬線105的尺寸實(shí)現(xiàn)不同的相位梯度,相位梯度單元越多,在相位補(bǔ)償時(shí)結(jié)果越精確。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請(qǐng)人或?qū)@麢?quán)人西安電子科技大學(xué),其通訊地址為:710071 陜西省西安市雁塔區(qū)太白南路2號(hào);或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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