中國科學院上海光學精密機械研究所徐博文獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國科學院上海光學精密機械研究所申請的專利一種高斯激光束發散角測量裝置與方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115560849B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211260075.4，技術領域涉及：G01J1/42；該發明授權一種高斯激光束發散角測量裝置與方法是由徐博文;周蜀渝設計研發完成，并于2022-10-14向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種高斯激光束發散角測量裝置與方法在說明書摘要公布了：本發明涉及激光檢測技術領域，公開了一種高斯激光束發散角測量裝置與方法，包括：使待測激光束穿過偏振分光棱鏡，正入射進體相位光柵和14波片，分成光強比例約為0.25：0.5：0.25的三個光斑，經由反射鏡反射再次通過14波片和體相位光柵，并由偏振分光棱鏡反射至CCD相機中，通過改變具有可移動鏡架的反射鏡到體相位光柵的距離，得到不同距離x0時零級光斑強度在所有光斑強度中的占比。再根據零級光斑的光強占比與光束發散角的關系，通過公式擬合出待測激光束發散角。
本發明授權一種高斯激光束發散角測量裝置與方法在權利要求書中公布了：1.一種高斯激光束發散角測量裝置，其特征在于，包括：偏振分光棱鏡、體相位光柵、14波片、反射鏡、消色差透鏡和CCD相機； 待測高斯激光束垂直入射至所述的偏振分光棱鏡，經該偏振分光棱鏡透射后，依次經所述的體相位光柵和14波片后，入射到所述的反射鏡，經該反射鏡反射后沿原路返回，依次經所述的14波片和體相位光柵后，入射到所述的偏振分光棱鏡，經該偏振分光棱鏡反射后，經所述的消色差透鏡入射到CCD相機，該CCD相機與計算機相連，用于監測光強分布； 沿光路移動所述的反射鏡的位置，進而改變該反射鏡與所述的體相位光柵后表面的距離x0，獲取不同距離x0時零級光斑強度占所有光斑強度的比例P，并擬合計算待測高斯激光束的發散角θ，公式如下： 式中：A為反射鏡和體相位光柵對波面造成的畸變影響因子，S為光斑強度周期性變化所對應的反射鏡移動的周期距離，θdiff為體相位光柵±1級光和0級光之間的衍射角，L＝2x0+△x為兩次通過體相位光柵之間的等效距離；其中，△x為體相位光柵出射面0級光與+1級光之間的相位差導致的修正。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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