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龍圖騰網獲悉電子科技大學申請的專利一種計算相互依存電路網絡容錯性能的方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115292859B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210827978.X，技術領域涉及：G06F30/18；該發明授權一種計算相互依存電路網絡容錯性能的方法是由李西峰;謝永樂;彭禮彪;畢東杰;劉暢設計研發完成，并于2022-07-13向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種計算相互依存電路網絡容錯性能的方法在說明書摘要公布了：該發明公開了一種計算相互依存電路網絡容錯性能的方法，相互依存電路網絡的容錯性、魯棒性及可靠性領域。大多數依存網絡在現實世界中并不脆弱。因此，為了找到更精確的模型來說明實際級聯故障的機制，深入確定容錯分配與相互依存網絡魯棒性之間的關系，從而解決計算相互依存電路網絡容錯性能的問題。通過本發明計算的聯合電路容錯性能，實時改變電路結構或電路中節點能力，最大化聯合電路的容錯能力，增加聯合電路的魯棒性和穩定性。

本發明授權一種計算相互依存電路網絡容錯性能的方法在權利要求書中公布了：1.一種計算相互依存電路網絡容錯性能的方法，該方法基于以下基礎： 第一：節點依存是分層的，即如果節點a的行為部分受另一個節點b的影響，那么稱節點a部分依存于節點b；另一方面，如果節點a的行為完全由節點b控制，則稱節點a完全依存于節點b； 第二：網絡中的每個節點都具有容錯性； 第三：網絡中的每個節點具有不同的容錯能力； 第四：節點的容錯能力與節點在網絡中的重要性密切相關； 第五：節點的度與其容錯性相關，這種關系分為三類：正相關、負相關和隨機相關，正相關表示高度的節點意味著高容錯能力，低度的節點意味著低容錯能力；負相關表示高度的節點意味著低容錯能力，低度的節點意味著高容錯能力；隨機相關表示度與節點的容錯能力之間的關系是隨機的； 該方法包括： 步驟1：計算電路A和電路B的度分布母函數； G0Aξ＝∑kPAkξk G0Bξ＝∑kPBkξk 其中，PAk表示電路A的節點度分布，PBk表示電路B的節點度分布，ξk表示第k個節點變量； 計算電路A和電路B的底層分支過程生成函數， G1Aξ＝G′0AξG′0A1 G1Bξ＝G′0BξG′0B1 其中，G1Aξ表示電路A的底層分支過程生成函數，G1Bξ表示電路B的底層分支過程生成函數，G′0Aξ，G′0Bξ分別表示G0Aξ、G0Bξ關于ξ的一階導數，G′0A1、G′0B1分別表示G′0Aξ和G′0Bξ在ξ＝1時的函數值； 步驟2：在電路A和電路B中隨機選擇一個節點開始，計算電路A和電路B的最大連接分支的體積； 1電路A和電路B中節點的度與其容錯性正相關時； 步驟2.1.1，通過如下兩式聯合計算電路A和電路B中隨機選擇一條鏈路出現最大連通分支的概率； 其中，RA、RB表示電路A、電路B中隨機選擇一條鏈路出現最大連通分支的概率，p[1-G1A1-RA]、p[1-G1B1-RB]表示電路A、電路B從隨機選擇的節點開始隨機選擇的鏈路導致電路A出現最大連通分支的概率，表示從電路a中隨機選擇的節點開始隨機選擇的鏈路導致電路A出現最大連通分支的概率，α表示當前電路節點的容錯能力，電路a屬于電路A，上標*表示可達極大簇的隨機邊，p[1-G0A1-RA]表示與給定節點相依的節點的生存概率； 其中，kmax表示對應電路中節點的最大階數，pk表示度為k的節點出現的概率，表示隨機選擇的節點的度，k表示平均度數； 步驟2.1.2：計算電路A和電路B的最大連接分支的體積； 其中，p[1-G0A1-RA]表示與給定節點相依的節點的生存概率，表示與隨機選擇節點相依的節點的生存概率； 2電路A和電路B中節點的度與其容錯性負相關時； 步驟2.2.1，通過如下兩式聯合計算電路A和電路B中隨機選擇一條鏈路出現最大連通分支的概率； 步驟2.2.2：計算電路A和電路B的最大連接分支的體積； 3電路A和電路B中節點的度與其容錯性隨機相關時； 步驟2.3.1，通過如下兩式聯合計算電路A和電路B中隨機選擇一條鏈路出現最大連通分支的概率； RA＝p[G11-RA]·[1-G01-RB]+p·α[1-G11-αRA]·G01-RB·1-p RB＝p[1-G11-RB]·[1-G01-RA]+α[1-G11-αRB]·{1-p[1-G01-RA]}·1-p 步驟2.3.2：計算電路A和電路B的最大連接分支的體積； SA＝p[G0A1-RA]·[1-G0B1-RB]+p·[1-G0A1-αRA]·G0B1-RB·1-p SB＝p[1-G0B1-RB]·[1-G0A1-RA]+[1-G0B1-αRB]·{1-p[1-G0A1-RA]}·1-p 步驟3：將步驟2計算得到的電路A和電路B的最大連接分支的體積相加與閾值相比較，大于閾值則認為電路A和電路B的聯合容錯性能差，否則容錯性能好。

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