中國科學院高能物理研究所雒濤獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉中國科學院高能物理研究所申請的專利一種微通道板準直器紫外線點光源檢測裝置及檢測方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN115014712B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-12發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202210518268.9,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G01M11/02;該發(fā)明授權(quán)一種微通道板準直器紫外線點光源檢測裝置及檢測方法是由雒濤;徐玉朋;何會林;李茂順;陳田祥;楊生;張愛梅設(shè)計研發(fā)完成,并于2022-05-13向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本一種微通道板準直器紫外線點光源檢測裝置及檢測方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明公開了一種微通道板準直器紫外線點光源檢測裝置及檢測方法,檢測裝置包括紫外光源、載物臺、準直器和紫外光相機,所述準直器設(shè)在載物臺上,所述紫外光源和紫外光相機分別設(shè)在準直器的前后方,所述紫外光源、準直器和紫外光相機位于同一軸線上。本發(fā)明采用點光源進行照射,一次測量即可得出微通道板的測量結(jié)果,避免大量多次且長時間的試驗操作,并且光源距離近,粒子通量大,單次測量時間短,有效提升檢測作業(yè)效率;并且用紫外線代替X射線,避免了X射線帶來的輻射危險,減少了人員暴露的危險。
本發(fā)明授權(quán)一種微通道板準直器紫外線點光源檢測裝置及檢測方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種微通道板準直器紫外線點光源檢測裝置的檢測方法,其特征是,檢測裝置包括紫外光源(1)、載物臺(2)、準直器(3)和紫外光相機(4),所述準直器(3)設(shè)在載物臺(2)上,所述紫外光源(1)和紫外光相機(4)分別設(shè)在準直器(3)的前后方,所述紫外光源(1)、準直器(3)和紫外光相機(4)位于同一軸線上; 所述準直器(3)的參數(shù)指標包括指向精度、開口面積比和視場,所述指向精度包括孔-孔平行度和孔-面垂直度; 檢測方法包括以下步驟: S1,系統(tǒng)準備:根據(jù)測量精度的要求,調(diào)整紫外光源(1)、準直器(3)和紫外光相機(4)的相對位置,并保證位于同一軸線上,調(diào)整完畢后安裝準直器(3); S2,連接系統(tǒng):將紫外光源(1)、載物臺(2)和紫外光相機(4)與測試系統(tǒng)進行連接; S3,進行測試:運行紫外光源(1)和紫外光相機(4),所述紫外光源(1)發(fā)射點光源,紫外光相機(4)接收紫外光并成像; S4,結(jié)果轉(zhuǎn)換:根據(jù)紫外光相機(4)成像的虛擬原始圖像進行轉(zhuǎn)換得到PicC亮度分布三維圖,根據(jù)PicC亮度分布三維圖得出準直器(3)的參數(shù)指標,并與預(yù)期值進行比對; 步驟S4中,PicC亮度分布三維圖水平方向的空間坐標為紫外光的入射光傾角;PicC亮度分布三維圖的峰值為準直器(3)的開口面積比參數(shù);PicC亮度分布三維圖的峰值所處位置對應(yīng)的角度值為準直器(3)的指向精度參數(shù),PicC亮度分布三維圖峰值的半寬高為準直器(3)的視場參數(shù)。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人中國科學院高能物理研究所,其通訊地址為:100049 北京市石景山區(qū)玉泉路19號乙院;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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