散裂中子源科學中心;中國科學院高能物理研究所杜文婷獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉散裂中子源科學中心;中國科學院高能物理研究所申請的專利一種中子譜儀準直器系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114779315B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210439755.6，技術領域涉及：G01T7/00；該發明授權一種中子譜儀準直器系統是由杜文婷;胡春明設計研發完成，并于2022-04-25向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種中子譜儀準直器系統在說明書摘要公布了：一種中子譜儀準直器系統，包括第一準直器、第一安裝架和位姿調節裝置，第一準直器設于樣品中心點與中子探測器之間，第一準直器安裝在第一安裝架上，第一安裝架安裝在位姿調節裝置上，第一準直器用于準直衍射中子束流，有效減少雜散中子進入中子探測器，同時位姿調節裝置能夠調節第一準直器的位姿，尋找衍射中子束流通量最大的位置，使得本底噪聲降低，有效信號增強，信噪比增大，譜儀實驗分辨率和精度增高。
本發明授權一種中子譜儀準直器系統在權利要求書中公布了：1.一種中子譜儀準直器系統，其特征在于，包括： 第一準直器，所述第一準直器設于樣品中心點與中子探測器之間，所述第一準直器用于準直衍射中子束流； 第一安裝架，所述第一準直器安裝于所述第一安裝架上； 位姿調節裝置，所述第一安裝架安裝于所述位姿調節裝置上，所述位姿調節裝置用于調節所述第一準直器的空間位姿； 所述第一準直器呈前端面小、后端面大的方形喇叭狀且所述第一準直器的焦點為樣品中心點，所述第一準直器的后端面的覆蓋角度大于或等于中子探測器的覆蓋角度，所述前端面為圓柱狀或球面狀，所述后端面為圓柱狀或球面狀； 第二準直器和第二安裝架；所述第二準直器設于所述第一準直器與中子探測器之間，所述第二準直器呈方形喇叭狀且所述第二準直器的焦點為樣品中心點，所述第二準直器的前端面形狀與所述第一準直器的后端面形狀相同，所述第二準直器的后端面形狀與中子探測器的形狀相同且所述第二準直器的后端面緊靠中子探測器的表面；所述第二準直器安裝于所述第二安裝架上；所述第二準直器作為所述第一準直器的延伸，用于對所述第一準直器準直過的衍射中子束流進一步進行準直。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人散裂中子源科學中心;中國科學院高能物理研究所，其通訊地址為：523808 廣東省東莞市松山湖科技產業園區科學園生產力大廈；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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