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龍圖騰網獲悉安慶師范大學申請的專利一種有效關鍵面積參數向量集重排序方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114839518B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210421043.1，技術領域涉及：G01R31/3181；該發明授權一種有效關鍵面積參數向量集重排序方法及系統是由詹文法;張魯萍;江健生;蔡雪原;鄭江云;章禮華;馮學軍;余儲賢;胡心怡設計研發完成，并于2022-04-21向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種有效關鍵面積參數向量集重排序方法及系統在說明書摘要公布了：本發明提供一種有效關鍵面積參數向量集重排序方法及系統包括：獲取被測集成電路的電路描述語言，據以利用測試向量生成工具ATPG生成針對該所述被測集成電路的測試向量集；對所述被測集成電路的模擬電路進行故障注入，獲取并根據當前所述模擬電路中的測試響應值判斷該所述被測集成電路是否存在故障；參照所述被測集成電路的結構圖，處理不同單元電路中所含晶體管的總關鍵面積相對于該單元電路的面積覆蓋，統計所述測試向量集中的每條測試向量命中故障的次數，據以處理得到測試特征值，按照所述測試特征值排序處理所述測試向量，以重排序測試向量集，用以測試所述被測集成電路。本發明解決了集成電路測試成本高、測試效率低及測試準確率低的技術問題。

本發明授權一種有效關鍵面積參數向量集重排序方法及系統在權利要求書中公布了：1.一種有效關鍵面積參數向量集重排序方法，其特征在于，所述方法包括： S1、獲取被測集成電路的電路描述語言，利用硬件描述語言描述所述被測集成電路，據以利用測試向量生成工具ATPG生成針對該所述被測集成電路的測試向量集； S2、對所述被測集成電路的模擬電路進行故障注入，獲取當前所述被測集成電路中的測試響應值，對比所述測試響應值與正常電路測試響應值，據以判斷所述被測集成電路是否存在故障； S3、參照所述被測集成電路的結構圖，處理不同單元電路中所含晶體管的總關鍵面積相對于該單元電路的面積覆蓋，統計所述測試向量集中的每條測試向量命中故障的次數，據以處理得到測試特征值，按照所述測試特征值排序處理所述測試向量，以重排序測試向量集，用以測試所述被測集成電路； 包括：S31、獲取模擬電路中的各類晶體管的特征尺寸； S32、獲取所述模擬電路的各電路單元占比數據； S33、處理所述模擬電路中的結構圖，以得到各所述單元電路的晶體管總關鍵面積數據以及單元電路面積數據； S34、處理所述晶體管總關鍵面積數據以及所述單元電路面積數據，以得到所述被測集成電路中的不同所述單元電路的相對面積覆蓋數據； S35、統計對所述模擬電路進行的模擬故障測試過程中的每條所述測試向量的命中次數； S36、根據所述命中次數估算各所述測試向量的所述測試特征值，根據所述測試特征值的大小排序所述測試向量，以得到所述重排序測試向量集。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人安慶師范大學，其通訊地址為：246133 安徽省安慶市菱湖南路128號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。